安捷伦为山口大学提供THz级向量网络分析量测方案

　　安捷伦科技（AgilentTechnologiesInc.）宣布，已经将*整合的1.1THz网络分析量测解决方案交货给日本山口大学（YamaguchiUniversity）。该解决方案包括VirginiaDiodes公司的频率延伸模块WR-01，以及安捷伦的50GHzPNA-X向量网络分析仪，以协助山口大学进行THz级频率的超常材料（metamaterials）研究。
　　
　　电磁频谱的THz范围，在高数据速率通讯、*电子材料光谱学、太空研究、医疗、生物、监管及远程感测上，有极大的应用潜力。尽管如此，THz范围在频谱领域中仍尚未被深入探索。再者，高功率的THz讯号源在THz频率范围内，过于依赖具有有利特性的材料，因此材料研究遂成为的THz系统相当重要的一环。
　　
　　安捷伦整合的量测解决方案足以解决该挑战，其能准确量测新材料中的THz讯号。该信息对于山口大学成功进行材料研究有极大的帮助。
　　
　　安捷伦的解决方案采用VirginiaDiodes公司所生产的*款*校验、750GHz到1.1THz的频率延伸模块WR-01，以及安捷伦的能50GHzPNA-X向量网络分析仪。这些仪器以优于50dB的动态范围，提供*校验的向量网络分析量测。
　　
　　使用者首度可以利用PNA-X的校验技术，来执行稳定可靠的THz量测。该仪器的动态范围，可确保用户轻易地达到高灵敏度的量测。由于频率延伸模块提供750GHz到1.1THz的频率作业范围，因此用户在撷取较高分辨率的影像时同样轻而易举。
　　
　　安捷伦的PNA-X向量网络分析仪，提供从射频到毫米波的广泛量测应用范围。
　　
　　山口大学位于日本Ube市。针对材料在THz频率下的特性进行分析，是该校科学与工程学院正进行的研究的一部份。