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XDAL,XDVM菲希尔(FISCHER)膜厚仪,XRF镀层厚度
分析仪配创新的X射线光学系统,专门测量极小的面
积.电动测量台,高能量解像半导体接收器,四个电动
准直器.自动切换,采用激光自动对焦,并配备有Z
轴防冲撞传感器,可防止在对焦时造成一起的损坏
。可适用于各种样品,从较厚的样品(机械零部件
)之大型线路板(PCB)及电子元器件等 符合标准
DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收
器,配合快速信号处理系统能达到*的精确度和
非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从17号元
素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量
:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,
Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如
Cr/NiCu/Plastic;Fe。
菲希尔XUL(M)膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连
接器.金属等多个领域.让客户满意是我们锦霖公司
始终的目标. :邓生: 地址
:深圳市宝安区沙井新桥洋下大道8号凯悦大厦1704