膜厚仪

Thick800A膜厚仪工作原理：

X射线膜厚仪、镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来，根据射线强度，来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏，所以也算是无损检测。

Thick800A膜厚仪优势：  

下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm。

微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

高效率的接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

精密微型滑轨：电脑定位操作，快速精准定位样品。

EFP先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

膜厚检测速度：不同镀种各有区别，从10S-60S,可以根据客户测试需求，自行修改。

Thick800A膜厚仪规格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

仪器重量 ：90kg

供电电源 ：交流220±5V

zui大功率 ：330W

环境温度：15℃-30℃

环境相对湿度：<70%

Thick800A膜厚仪应用领域：

可主用于电镀及表面处理厂家或是电子电器企业需要用到电镀的厂家，如PCB、电子元件、卫浴等生产厂家等

欢迎广大客户前来索要仪器资料或是采购仪器