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  CHY-C2测厚仪

CHY-C2测厚仪

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公司名称:
济南兰光机电技术有限公司
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更新时间:
2014-07-08 22:12
厂商性质:
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CHY-C2测厚仪

CHY-C2测厚仪 详细信息

CHY-C2测厚仪采用机械式测量方法,适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。符合GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。
  本测厚仪采用进口优质传感器,测厚分辩率高达0.1微米,选用优质传动元件,确保了试验结果的稳定性与准确性。大液晶屏显示,操作简便,配备微型打印机直接打印试验报告。另外具有电脑通信接口,通过选购软件实现数据的永久性存储、查询、打印;软件功能强大,可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计,试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输。

薄膜测厚仪技术指标
测量范围:0~2mm(常规)(0~6mm可选)
分 辨 率:0.1μm         
测量速度:10次/min(可调)
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);〔50±1kPa(纸张)〕
接触面积:50mm2(薄膜);〔200mm2(纸张)〕

 


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