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CMI900  X荧光镀层测厚仪

CMI900 X荧光镀层测厚仪

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公司名称:
广东正业科技股份有限公司
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产品型号:
CMI900
更新时间:
2014-07-07 19:28
厂商性质:
生产商
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本网采购热线:0571-87756399
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CMI900荧光镀层测厚仪是目前国内测量镀层厚度最为理想的仪器,CMI900在很多行业都被广泛应用,特别是在PCB及电镀行业,其市场占有度非常高.

X荧光镀层测厚仪 详细信息

 

CMI900 X荧光镀层测厚仪特点:
● 精度高、稳定性好
● 强大的数据统计、处理功能
● 测量范围宽
● NIST认证的标准片
● 全球服务及支持

CMI900 X荧光镀层测厚仪技术参数:
    X射线激发系统
    垂直上照式X射线光学系统
    空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
    标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
    功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准? 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选
    装备有安全防射线光闸
    二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
    准直器程控交换系统
    最多可同时装配6种规格的准直器
    多种规格尺寸准直器任选:
    -圆形,如4、6、8、12、20 mil等
    -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等? 
    测量斑点尺寸
    在12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
    在12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
    样品室结构: 开槽式样品室
    最大样品台尺寸: 610mm x 610mm
    XY轴程控移动范围: 标准:152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选
    Z轴程控移动高度:? 43.18mm
    XYZ三轴控制方式: 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ 三轴手动控制 
    CMI900 X荧光镀层测厚仪样品观察系统:
    高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
    激光自动对焦功能,可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置: IBM计算机,惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件:? 操作系统:Windows2000中文平台, 分析软件包:SmartLink FP软件包
测厚范围:?可测定厚度范围:取决于您的具体应用。 
    CMI900 X荧光镀层测厚仪基本分析功能:
    采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
    样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
    可检测元素范围:Ti22 – U92
    可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测,如Au karat评价 材料和合金元素分析,材料鉴别和分类检测液体样品分析,如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析
   调整和校正功能: 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移测量自动化功能  鼠标激活测量模式:“PointShoot”多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 测量位置预览功能 激光对焦和自动对焦功能
样品台程控功能: 设定测量点, 连续多点测量, 测量位置预览(图表显示)
统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 数据分组、X-bar/R图表、直方图 数据库存储功能
任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
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