EV系列光学影像测量仪以高精度的大理石作机身的支架，配上高精度工作台，X/Y/Z三轴均装有分辨率为0.001mm的精确的光学尺测量系统，X/Y/Z轴的量测精度高达（3+/200）um。

EV系列光学影像测量仪，具功能强大，最高价格性能比的特点。

EV系列光学影像测量仪采用本公司开发的精密多段倍率，超低变形，远心光学设计的变焦镜头，配上本公司专为光学测量而设计的专用DSP1/2"CCD彩色影像系统，将被测工件的表面纹理清晰细致地显现，轮廓层次分明，精确无误地放大20－125倍作精密测量

EV系列光学影像测量仪以高精度的大理石作机身的支架，配上高精度工作台，X/Y/Z三轴均装有分辨率为0.001mm的精确的光学尺测量系统，X/Y/Z轴的量测精度高达（3+/200）um。

EV系列光学影像测量仪配备由本公司自行开发，功能强大，使用简单的全功能测量软件，测量结果可以图档DXF格式输出至各类通用的CAD软件，如AUTOCAD，MASTERCAM等等，方便用户使用于抄数应用，相反地，用户也可将DXF格式的图档输入至本公司的测量软件内，作直观测量比较。

EV系列光学影像测量仪配备本公司自行开发，使用简单的SPC统计分析软件，使用户可以轻松对其加工流程进行科学化分析，从而轻易地找出流程中的误差趋势，以及工序中存在的问题。所有测量结果均可输出至通用的办公软件，如EXCEL，WORD等格式，方便用户保存，编制质量检查报告，或作进一步的处理。

参数

型号 EV-2515 EV-3020 EV-4030   量测行程（X/Y/Z） 250X150X150mm 300X200X200mm 400X300X250mm 外形尺寸 （长宽高） 100X60X40cm 120X72X160cm 120X72X160cm 机身重量 170kg 280kg 410kg 重复性 2um 机台承重量 30kg 操作方式 手动 量测分辨率 0.001mm X/Y/Z轴 测量精度 （3+L/200）um 光源系统 全电脑程控,USB控制四路上光源,直轴可调下光源 平台结构 00级花岗石机台及立柱 精密测头 （选配） 英国Renishaw高精度接触式精密测头 镜头 超低变形,多段分辨率远心光学设计镜头（Telecetric Lens） 放大倍率 光学放大倍率0.7-4.5X,影像放大倍率20X-125X 标准电脑配置 C4/2.4G/256M内存/40G硬盘 17"寸CRT显示器 影像系统 Easson高解析度CCD影像头（1/2"SONY CCD Sensor）及支专用DSP