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CIT-3000SMP  便携式X荧光分析仪

CIT-3000SMP 便携式X荧光分析仪

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公司名称:
四川新先达测控技术与有限公...
所在地区:
成都市
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产品型号:
CIT-3000SMP
更新时间:
2016-07-27 11:18
厂商性质:
生产商
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CIT-3000SMP 便携式高灵敏多元素分析仪,是本公司独立开发研制的新一代高灵敏多元素便携式多道微机化分析仪。该仪器采用美国“Amptek”公司生产的最新电致冷半导体探测器、美国“Comect”公司生产的微型X光管及高压作为激发源,具有分析速度快、分析元素多、分析精度高、操作简单、维护方便等特点。广泛适用于各有色、黑色矿山、选矿厂、质检站等部门进行现场快速测量分析。

便携式X荧光分析仪 详细信息

 

1、 可供选择的多种激发源,能满足不同客户的需求

可选用美国“Comect”公司生产的具有国际先进水平的微型X光管和高压,激发元素的范围更广泛。也可以选择同位素源238Pu作为激发源,性价比高。

 

2、采用电致冷半导体探测器,分析精度高

在X射线荧光分析系统中,半导体探测器是目前分辨率最好的探测器,能量分辨率高,全可以满足目前需要分析元素的精度。该仪器采用美国“Amptek”公司近年来开发出的电致冷Si(Li)半导体探测器,不仅技术可靠,它比现有的正比计数管的灵敏度提高1-2个数量级。能量分辨率高,能准确分析数十种元素。

3、采用多道脉冲分析器--实现多元素同时分析

采用多道(2048)脉冲幅度分析技术能对X射线荧光光谱进行精细的分析,得到多个参数,可以组成多元数学模型,实现多元素同时分析,并根据实际情况选用不同的数学校正方法,提高分析精度;同时采用多道分析器为实现自动稳谱创造了条件。

4、制样简单

分析仪由于采用先进测量技术,无需添加其它物质,只需将样品置于样盒中即可。对于固体样品测量一般采用照射样品上表面(即探头在样品上方);对于溶液测量,考虑到其特殊性,一般针对其具体情况采用相应的设计方案。

5、实用效果好

该仪器开发成功后,经过了多家生产企业的使用,并由中国测试技术研究院经过了严格、科学的监测和考查。具备国家计量仪器生产许可证,被科技部列为“九五”国家科技成果重点推广项目(编号:99010522A)。

 6、仪器测量对象:各种有色、黑色金属矿粉、烧结矿、球团矿、炉渣,各种非金属矿、硅酸盐矿物等;

7、分析范围:Si-U(主要为K、Cr、Ba、Sr、S、P、Cl、Ti、V、Ca、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Ni、Mo、Hg、Ta、As等);

8、分辨率优于155ev;

9、仪器稳定性好,8小时连续测定RSD≤0.25%;

10、温度系数≤0.0004/℃工作环境温度-10~45℃;

11、仪器分析精度:标准偏差≤0.08%(按连续12次分析同一样品所得数据进行统计);

12、仪器分析精度:本仪器对各种有色金属矿石、烧结矿、球团、各种非金属矿、水泥生料熟料等对象元素含量的重复测量精度均达到国家相应标准要求;

13、分时间小于300秒;

14、整机功耗:8W;

15、整机重量:3.5Kg。


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