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  光学式表面粗糙度轮廓形貌仪(型号:Proscan 2000,英国Scantron生产,原装进口)

光学式表面粗糙度轮廓形貌仪(型号:Proscan 2000,英国Scantron生产,原装进口)

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上海贝丁汉工业自动化设备有...
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上海
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更新时间:
2015-05-01 14:12
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英国Scantron Industrial Products Ltd公司生产的Proscan 2000光学式表面粗糙度轮廓形貌仪,采用无损测量技术,用于对各种产品的和部件的表面形貌特征进行测量和分析,它比传统的探针式轮廓仪操作更方便,测量精度更高。

光学式表面粗糙度轮廓形貌仪(型 详细信息

产品功能

    对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、共面性、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、蚀刻情况、弯曲变形情况、加工情况、材料支撑率等表面形貌特征进行测量和分析。被测物体的尺寸通常不大于150*100mm,更大尺寸的测量系统可以定做;工作台最大承载重量40Kg。

    产品广泛应用于汽车工业、航空航天、造纸工业、钢铁工业、薄膜加工、半导体加工、MEMS等行业。

 

应用范围

* 机械密封的平面度和粗糙度测量;

* 电子元件表面的平面度、翘曲度和粗糙度测量分析;

* BGA焊料球的共面性、封装是否变形以及所有的焊料球是否都存在的检查分析;

* 造纸行业对纸张表面的纹理分析;

* 膜片的厚度及涂层的高度测量等;

* 化学蚀刻产品的蚀刻深度和面积测量;

* 压花材料表面特征分析,如合成材料人造皮革表面形貌测量分析;

* 丝印装置涂层厚度测量,如电子产品和生物医疗器械等;

* 轧制铝膜和钢板表面情况进行三维分析;

* 法医学上三维表面形貌测量分析;

* 压电陶瓷部件的轮廓和表面形貌特征测量分析;

* 牙齿的腐蚀和磨损情况分析;

* 医学上如人造皮肤的轮廓分析;

* 沟槽深度和截面计算分析;

* 激光蚀刻表面的雕刻深度测量;

* 各种柔软材料、易腐蚀材料、传统接触方式无法检测的产品的表面形态测量和分析;

* 其他各种小型部件的平面度、粗糙度、波纹度和轮廓测量分析。

 

产品介绍

    英国Scantron Industrial Products Ltd公司生产的Proscan 2000光学式表面粗糙度轮廓形貌仪,采用非接触式传感器扫描技术,用于对各种产品和部件的表面形貌特征进行测量和分析,它比传统的探针式轮廓仪操作更方便,测量精度更高。由于采用非接触无损的测量方式,避免了对被测物体造成划痕和磨损,尤其适用于各种柔软材料、易腐蚀材料和传统方式无法检测的表面形态测量和分析。

    Proscan 2000光学式表面粗糙度轮廓形貌仪最大扫描速度可达到80mm/秒,每秒2000个数据点,每行可扫描20000个独立的数据点,垂直测量分辨率最高可达到5nm,最小测量范围0-110μm,最大测量范围0-50mm。

    Proscan 2000以花岗岩为工作平台,是快速、精准、非接触式的三维表面形态测量仪器。广泛应用于各种表面轮廓和形貌特征精确测量分析的场合。高性能非接触式光学传感器扫面范围是150mm(长)X100mm(宽),使用色差传感器,每秒可测量1000个数据点,使用三角激光传感器每秒可测量10000个数据点,对被测件平面的扫描点数最多可达576万个数据点。配套软件可以对各种测量参数进行分析。

 

产品特点

* 花岗岩框架结构,受热胀冷缩影响非常小,基本没有振动。

* 配套软件可以以二维或三维的方式对数据进行形貌分析。

* 数据分析结果方便导出,导出格式有ASCII、ZZZZ...LF及XYZLF...CR’a’等。

* 数据分析也可选择二维X-Y平面视图,还具有三点平面修正和自动水平功能。


 

 

评定参数

Am               轮廓算术平均值

Ra               轮廓算术平均偏差

Rz(DIN)        峰谷高低平均值

Rz(ISO)        微观不平度十点高度

Rmax             轮廓最大高度

Rp               平均轮廓波峰高度

Rq               粗糙度均值平均方根

Rpm              峰值高度最大值

Rvm              谷值深度最大值

R3z              算术平均第三峰谷间高度

Wt               波形深度总值

Pt               轮廓深度总值

Nr               峰值计数归一

Tpa              材料支撑率(宏)

D                峰值密度

S                轮廓单峰平均间距

Sm               轮廓微观不平度平均间距

Lm               取样长度

共面性

Warpage滤波器,过滤表面粗糙度数据,而仅保留轮廓数据

Surface滤波器,过滤表面轮廓数据,而仅保留粗糙度数据

对单点进行编辑

在X和(或)Y轴上进行插值

半径计算

体积计算

表面积计算

截面积计算

三维轮廓显示


 

 

技术规范

扫描仪最大尺寸(长*宽*高)

740*542*(780-835)mm

扫描仪最大重量

40Kg

电控部分尺寸

570*700*750mm

电控部分重量

40Kg

计算机显示器

15” LED显示器

照明与定位摄像头(可选)

14” CRT

扫面平台尺寸

380*280mm

X和Y轴行程

150mm*100mm

Z轴行程

100mm

电源

220 - 240 VAC, 50/60Hz

使用环境

10-35℃

X及Y轴扫描点最小间隔距离

1μm

X及Y轴扫描点最大间隔距离

9.999mm

标准配置扫描样品最大重量

6Kg

数据采集最大速度(取决于传感器及设定)

20000点/秒

最大扫描速度(取决于传感器及设定)

80mm/秒

回程速度

100mm/秒

最大扫描点数

576万点

 

传感器选型方案

传感器

型号

垂直

测量范围

物镜测量距离

mm

分辨率

线性度

(%+/-量程)

技术

原理

S3/011

110μm

3.3

5 nm

0.1

白光色差技术

S11/03

300μm

11

12 nm

0.1

白光色差技术

S13/1.1

1.1 mm

12.7

25 nm

0.1

白光色差技术

S16/2.5

2.5mm

16.4

75 nm

0.1

白光色差技术

S29/10

10mm

29

280 nm

0.1

白光色差技术

S20/20

20mm

19.6

600 nm

0.1

白光色差技术

L25/2H

2 mm

25

0.1 μm

0.05

三角测量技术

L35/10H

10 mm

35

0.5 μm

0.03

三角测量技术

L50/20H

20 mm

50

1 μm

0.03

三角测量技术

L70/50H

50 mm

70

2.5 μm

0.03

三角测量技术

 

各种可选项

* 照明与定位摄像头,用于小型部件的定位和缺陷检查;

* 其他各种传感器;

* 仿制材料,用于对不容易进入的区域和对表面测量有困难的场合;

* 比标准的X和Y行程范围更大的测量平台。 

 

产品尺寸图

 

 

应用举例

一、电子元件的形貌检查

 

 

电子元件的原貌

 

对单个BGA的扫描结果

    100%检测BGA(包括穴距)和倒装芯片的包装情况,自动分析共面性、球面高度、球的位置和包装扭曲情况;分析丝焊高度和轮廓;亚微米级分辨率,三维图形显示平均、最大和最小深度。

 

二、部件表面粗糙度测量

 

 

被测部件原貌

 

扫描后的结果分析

    精确分析被测部件的表面纹理、波面度和形态特征,符合ISO和DIN的粗糙度国际参数分析标准,包括Ra、Rz、Rmax、Rq、Rvm、Rpm、Pt、Nr、D、Sm、Wt和Tpa等。可测量出平面度、表面积、体积、承载比和部件的精确尺寸。

 

三、纸张类表面的纹理分析

 

 

扫描前的产品原貌

 

扫描后的分析图

    对板材类、纸张类产品的表面进行纹理和形貌特征分析,自动计算各种表面分析的参数,如Ra、Rz、Rmax、Rvm、Rpm、Sm和材料比等,测量速度快,结果准确,操作简单。

 

视频资料

欢迎来电索取。

 

样本下载

光学式表面粗糙度轮廓形貌仪2000.pdf

 

 

欢迎来电安排现场软件演示!


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