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JC06-DZ  电子薄膜应力分布测试仪 基片曲率半径测量测试仪 光学零件平整度面形检测仪 微电子生产半导体基片检测仪

JC06-DZ 电子薄膜应力分布测试仪 基片曲率半径测量测试仪 光学零件平整度面形检测仪 微电子生产半导体基片检测仪

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产品报价:
1元
公司名称:
北京北信未来电子仪器有...
所在地区:
北京市
产品型号:
JC06-DZ
更新时间:
2015-11-20 11:43
厂商性质:
生产商

联系人:刘 18501309179

(联系我时,请说明是在中国仪表网上看到,谢谢!)

电子薄膜应力分布测试仪 基片曲率半径测量测试仪 光学零件平整度面形检测仪 微电子生产半导体基片检测仪:该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、基片曲率半径测量测试。该仪器总测量点数多,能给出全场面型分布结果,适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。

电子薄膜应力分布测试仪 基片曲 详细信息

电子薄膜应力分布测试仪 基片曲率半径测量测试仪 光学零件平整度面形检测仪 微电子生产半导体基片检测仪

型号JC06-DZ

该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、基片曲率半径测量测试。该仪器总测量点数多,能给出全场面型分布结果,适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。

仪器基于干涉计量的全场测试原理,可实时观测面型的分布,迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置,及时淘汰早期失效产品。

电子薄膜应力分布测试仪 基片曲率半径测量测试仪 光学零件平整度面形检测仪 微电子生产半导体基片检测仪  主要技术指标

最大样品尺寸≤100mm(4英寸)

曲率范围|R|≥5米

测试精度5%

单片测量时间3分钟/片

结果类型面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格

图形显示功能三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示

电源AC220V±10%,50Hz±5%

最大功耗100W

外型尺寸(L×W×H)285mm×680mm×450mm

重量36kg


电子薄膜应力分布测试仪 基片曲率半径测量测试仪 光学零件平整度面形检测仪 微电子生产半导体基片检测仪

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北京北信未来电子仪器有限公司

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手机:18501309179

联系人:刘

电话:18501309179

传真:86-010-69791102

主营产品:仪器仪表、气体检测仪、金属探测仪、环保设备、实验室仪器、化工仪器设备、农业仪器、机

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