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  膜厚测试仪

膜厚测试仪

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产品报价:
面议
公司名称:
深圳市鼎极天电子有限公...
所在地区:
深圳市
产品型号:
更新时间:
2016-11-25 10:28
厂商性质:
代理商

联系人:汤先生 133-1698-3253 133-3295-3681

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膜厚测试仪,分为磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。 采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。

膜厚测试仪 详细信息

原理
采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。
磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。

X射线衍射装置
 简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息(物质构成,组成和镀层厚度),X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
 
具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。
主要特点
★ 自动对焦功能 。配备激光自动对焦功能,能够准确对焦,提高测量效率。
 
★ 具有焦点距离切换功能,适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量
 
★ 采用检量线法和FP法,两个准直器可自动切换,采用激光自动对焦,并配备有Z轴防冲撞传感器,可防
 
止在对焦时造成的损坏。
 
★ 选用Mo靶材X射线管,测量贵金属更灵敏。
 
★ 支持多种语言的软件系统。简体中文、繁体中文、英语、日语、韩语
 
★ 搭载样品尺寸的兼容性
 
可适用于各种样品,能够通过一台仪器测量,从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品,从较厚
 
的样品(机械零部件)之大型线路板(PCB)及电子元器件等
 
★ 卤素灯照明
 
★ 即时生成测量报告的便捷性 。运用搭载的Microsoft Word? Excel? 可以简单轻松得到制作报告
 
★ 多种修正功能。基材修正、已知样品修正、人工输入修正
 
★ 搭载了电动X-Y移动平台
 
进口日本精工(SFT9200)X-RAY荧光无损金属薄膜电镀层厚度测量仪
 
SFT9200是精工膜厚仪系列中普及型
 
用途:检测金属镀层膜厚厚度的仪器,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费
 
「SFT9200系列」继承了拥有了20多年历史及光辉业绩的「SFT系列」(操作性与可靠性共存)的优点,并不断地发展,成为可对应较广应用范围的X射线荧光镀层厚度测量仪[新标准机型]。
 
产品副名称:应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪
 
产品型号:SFT9200、SFT9250、SFT9255
 
技术参数:
 
仪器的特长:广泛应用型
 
可测元素:Ti~U
 
X射线管:小型空气冷却型高功率X射线管球(W靶)管电压:45kV 管电流:1mA Be窗
 
滤波器:
 
一次滤波器:A1-自动切换
 
二次滤波器:Co-自动切换
 
检测器:比例计数管
 
样品观察:CCD摄像机
 
对焦方式:激光自动对焦
 
测定软件:薄膜FP法、检量线法
 
5个准直器可自动切换
 
型(Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm)
 
型(0.2×0. 05 mm、0.05×0.02 mm)
 
安全机能:测量室门自锁功能
 
Z轴防冲撞功能
 
仪器自诊断功能
 
仪器介绍:
 
SFT系列中标准型仪器
 
滤波器
 
另有SFT9250、SFT9255两种机型
 
标准配备有Windows2000中文操作界面
 
采用检量线法和FP法,测量数据与Word和Excel链接
 
自动生成报告和数据处理
 
5个准直器可自动切换
 
工作台3维电动,可编程进行自动测量
 
采用激光自动对焦,并配备有Z轴防冲撞传感器
 
可防止在对焦时造成仪器的损坏。
 
产品特点:
 
能够测量无铅焊锡
 
配备了薄膜FP法,可以同时测量Sn-Ag,Sn-Bi,Sn-Cu等,无铅焊锡的镀层后与成份
 
搭载中心搜索软件
 
通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。
 
拥有防冲功能
 
搭载激光对焦系统
 
搭载测试报告自动生成软件
 
拥有自动测量软件以及中心搜索软件
 
搭载了薄膜FP法软件
 
X射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。可视光线的波长为0.000001 m (1μm)左右,X射线比其短为0.000000000001 m至0.00000001 m (0.01- 100 ?)左右。
 
对某物质进行X射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。
 
(1) 萤光X射线
 
(2) 散乱X射线
 
(3) 透过X射线
 
SII的产品是利用萤光X射线得到物质中的元素信息(组成和镀层厚度)的萤光X射线法原理。和萤光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息(构造)。而透过X射线多用于拍摄医学透视照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类。
 
简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息(物质构成,组成和镀层厚度),X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
 
具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。


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