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JSM6510  日本电子JSM-6510扫描电镜

JSM6510 日本电子JSM-6510扫描电镜

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产品报价:
1元
公司名称:
深圳市瑞盛科技有限公司
所在地区:
深圳市
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产品型号:
JSM6510
更新时间:
2016-02-16 02:07
厂商性质:
代理商
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本网采购热线:0571-87759942

扫描电镜最基本的功能是对各种固体样品表面进行高分辨形貌观察。大景深图像是扫描电镜观察的特色,应用于生物学、植物学、地质学、冶金学等领域。观察可以是一个样品的表面,也可以是一个切开的面,或是一个断面。冶金学家已兴奋地直接看到原始的或磨损的表面。可以很方便地研究氧化物表面,晶体的生长或腐蚀的缺陷。

日本电子JSM-6510扫描电镜 详细信息

扫描电镜最基本的功能是对各种固体样品表面进行高分辨形貌观察。大景深图像是扫描电镜观察的特色,应用于生物学、植物学、地质学、冶金学等领域。观察可以是一个样品的表面,也可以是一个切开的面,或是一个断面。冶金学家已兴奋地直接看到原始的或磨损的表面。可以很方便地研究氧化物表面,晶体的生长或腐蚀的缺陷。它一方面可更直接地检查纸,纺织品,自然的或制备过的木头的细微结构,生物学家可用它研究小的易碎样品的结构。例如:花粉颗粒,硅藻和昆虫。另一方面,它可以拍出与样品表面相应的立体感强的照片。

在扫描电镜应用中,很多集中在器件和方面,它可以很详细地检查器件工作时局部表面电压变化的实际情况,这是因为这种变化会带来象的反差的变化。焊接开裂和腐蚀表面的细节或相互关系可以很容易地观察到。利用束感生电流,可以观测半导体P—N结内部缺陷。

电子束与样品作用区内,还发射与样品物质其他性质有关信号。例如:与样品化学成分分布相关的,背散射电子,特征X射线,俄歇电子,阴极荧光,样品吸收电流等;与样品晶体结构相关的,背散射电子衍射现象的探测;与半导体材料电学性能相关的,二次电子信号、电子束感生电流信号;在观察薄样品时产生的透射电子信号等。目前分别有商品化的探测器和装置可安装在扫描电镜样品分析室,用于探测和定性定量分析样品物质的相关信息。

扫描电镜对于固体材料的研究应用非常广泛,没有任何一种仪器能够和其相提并论。对于固体材料全面特征的描述,扫描电镜是至关重要的。

 

保证分辨率

3.0nm(30kV)
8.0nm(3kV)
15nm(1kV)

放大倍数

5至300,000x

加速电压

0.5kV至30kV

电子枪

工厂预对中灯丝

聚光镜

变焦聚光镜

物镜

锥形物镜

样品台

全对中样品台

X-Y

80mm-40mm

Z

5mm至48mm

旋转

360°

倾斜

-10°至+90°

排气系统
(高真空模式)

DPx1,RPx1

排气系统
(低真空模式)

DPx1,RPx2

 

 

JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型扫描电子显微镜,与日本电子公司的元素分析仪(EDS),统合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制,操作员只用一只鼠标,就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。

操作窗口

直观的操作界面的设计,简明易懂便于迅速掌握操作。

支持多用户

单个用户可以根据常用功能设置相应的图标,营造快捷的操作环境。用户登录时,即可加载已注册过的设定。

 


同时显示两幅图像

画面上并列显示二次电子成像和背散射电子成像这两种实时图像。可同时观察样品的形貌和组成分布。

微细结构测量

适合于多种测量功能。可在观察图像上直接进行测量。也可将测量结果贴至SEM图像,保存在文件中。


标准的全对中样品台,能收录三维照片

3D Sight(选配件),能够进行平面测量和高度测量,实现立体俯视图。

从图像观察到元素分析,配合连贯一条龙

分析型扫描电子显微镜配备两台监视器,一台用于SEM图像观察和另一台用于元素分析(EDS)。一只通用鼠标即可同时控制两台监视器。大尺寸画面使操作更加简便与舒适。


维护简便

工厂预置中心灯丝,十分便于更换。因此,可长期保持稳定的高性能。此外,操作界面还能以映像形式显示灯丝维护的步骤说明。

可信赖的真空系统

真空系统使用高性能的扩散泵保证了洁净的高真空状态。扩散泵内部无活动部件,体现了操作稳定,维护简便的特色。


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