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HCJDCS-C  介电常数及介质损耗测试仪

HCJDCS-C 介电常数及介质损耗测试仪

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产品报价:
100元
公司名称:
北京华测试验仪器有限公司
所在地区:
北京市
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产品型号:
HCJDCS-C
更新时间:
2013-12-26 10:43
厂商性质:
生产商
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HCJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。

介电常数及介质损耗测试仪 详细信息

HCJDCS-C型 介电常数及介质损耗测试仪

一、介电常数及介质损耗测试仪介绍
HCJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。
HCJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪作为最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内最高的160MHz。采用了多项领先技术:
1.       双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
2.       双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
3.       双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
4.       自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
5.       全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
6.       DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。
7.       计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路残余电感减至最低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
介电常数及介质损耗测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了完美的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为精确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。
相关介绍
介电常数又称电容率或相对电容率,是表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据,常用ε表示。介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场,原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为介电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力,例如一个电容板中充入介电常数为ε的物质后可使其电容变大ε倍。介电常数愈小绝缘性愈好。如果有高介电常数的材料放在电场中,场的强度会在电介质内有可观的下降。介电常数还用来表示介质的极化程度,宏观的介电常数的大小,反应了微观的极化现象的强弱。气体电介质的极化现象比较弱,各种气体的相对介电常数都接近1,液体、固体的介电常数则各不相同,而且介电常数还与温度、电源频率有关。
有些物质介电常数具有复数形式,其实部即为介电常数,虚数部分常称为耗散因数。
通常将耗散因数与介电常数之比称作耗散角正切,其可表示材料与微波的耦合能力,耗散角正切值越大,材料与微波的耦合能力就越强。例如当电磁波穿过电解质时,波的速度被减小,波长也变短了。
介电常数及介质损耗测试仪适用范围
该仪器用于科研单学、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

二.介电常数及介质损耗测定仪技术参数
1、Q 值测量范围 2 ~ 1023

2、量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档
3、固有误差 ≤ 5 %±满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6%±满度值的2%(10MHz~160MHz)
4、工作误差 ≤7%±满度值的2%( 200kHz ~ 10MHz ),≤8%±满度值的2%(10MHz~160MHz)
5、电感测量范围 4.5nH ~ 140mH
6、电容直接测量范围 1 ~ 200pF
7、主电容调节范围 18 ~ 220pF
8、主电容调节准确度 120pF 以下± 1.2pF ; 120pF 以上± 1 %
9、信号源频率覆盖范围 100kHz ~ 160MHz
10、频率分段(虚拟) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz
11、频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字

12、电感9只;
13、夹具一套

三.电气绝缘材料测试相关产品:
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