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LE-SP-ART  吸收、反射/透射光谱测量系统

LE-SP-ART 吸收、反射/透射光谱测量系统

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产品报价:
1元
公司名称:
深圳市理欧光电科技有限公司
所在地区:
深圳市
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产品型号:
LE-SP-ART
更新时间:
2017-05-27 03:49
厂商性质:
生产商
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本网采购热线:0571-87759942

测试平面光学元件(如棱镜、滤光片、光栅、平行平板、镀膜等)、球面光学元件(凹面镜、凸面镜等)和各种材料(溶液、玻璃、硅、布料、汽车贴膜、眼镜等)的吸收、透射/反射光谱。

吸收、反射/透射光谱测量系统 详细信息

应用范围

□ 测试平面光学元件(如棱镜、滤光片、光栅、平行平板、镀膜等)、球面光学元件(凹面镜、凸面镜等)和各种材料(溶液、玻璃、硅、布料、汽车贴膜、眼镜等)的吸收、透射/反射光谱。

主要规格及特色

□ 光谱范围: 380~1000nm/600~1200nm(最低200nm,最高3000nm,可选)

□ 波长分辩率: 0.03nm~10nm (由所选波长范围确定)

□ 测试系统高集成度,自动化的测量

□ 两种专用系统可选,分别针对平面光学元件和球面光学元件光谱分析测试

□ 可升级测量平面光学元件不同入射角的反射和透射光谱,样品角度位移范围:2.5~357.5°,最小角位移:0.01°

□ 测量最大相对误差:<1.0% (平面测试系统); <1.2%  (球面测试系统);

□ 校正线性度:99.8%

应用范围

□ 测试平面光学元件(如棱镜、滤光片、光栅、平行平板、镀膜等)、球面光学元件(凹面镜、凸面镜等)和各种材料(溶液、玻璃、硅、布料、汽车贴膜、眼镜等)的吸收、透射/反射光谱。

主要规格及特色

□ 光谱范围: 380~1000nm/600~1200nm(最低200nm,最高3000nm,可选)

□ 波长分辩率: 0.03nm~10nm (由所选波长范围确定)

□ 测试系统高集成度,自动化的测量

□ 两种专用系统可选,分别针对平面光学元件和球面光学元件光谱分析测试

□ 可升级测量平面光学元件不同入射角的反射和透射光谱,样品角度位移范围:2.5~357.5°,最小角位移:0.01°

□ 测量最大相对误差:<1.0% (平面测试系统); <1.2%  (球面测试系统);

□ 校正线性度:99.8%


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