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LE-SP-PL  光致发光PL光谱测试系统(常温和低温)

LE-SP-PL 光致发光PL光谱测试系统(常温和低温)

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产品报价:
1元
公司名称:
深圳市理欧光电科技有限公司
所在地区:
深圳市
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产品型号:
LE-SP-PL
更新时间:
2014-03-27 15:00
厂商性质:
生产商
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测试半导体材料或其它发光特性材料在激光激发下产生的荧光光谱。常见系统采用紫外或近紫外激光激发半导体材料(III-V族如GaN等,II-VI族如ZnO、CdTe等)产生荧光,或用可见和红外激光器激发稀土掺杂的玻璃或晶体材料产生荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析该材料的能带结构等特征。

光致发光PL光谱测试系统(常温和 详细信息

应用范围

 测试半导体材料或其它发光特性材料在激光激发下产生的荧光光谱。常见系统采用紫外或近紫外激光激发半导体材料(III-V族如GaN等,II-VI族如ZnO、CdTe等)产生荧光,或用可见和红外激光器激发稀土掺杂的玻璃或晶体材料产生荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析该材料的能带结构等特征。

主要规格及特色

□ 测试光谱范围:200—5000nm(可根据要求选择)

□ 激光器波长:224nm、248nm、266nm、325nm/442nm、488/514nm、532nm、946nm、1064nm等可选

□ 低温PL测试:采用液氦循环制冷系统或液氮制冷系统对样品制冷,测试样品在低温下的发光光谱特性,最低可达2K

□ 宽光谱范围全自动光谱扫描

□ 系统由激发光源部分、样品室部分、分光部分、探测部分、信号采集处理部分、软件部分组成

□ 采用了高通光效率、低杂散光水平的单色仪和优化的光路

□ 采用锁相放大器进行信号的处理,大大的提高了系统的信噪比

□ 系统经过多年技术积累和客户的成功使用经验,具有很高的可靠性

□ 采用模块化设计,使用灵活,便于功能扩展和升级

□ 可实现样品原位测量

□ 可升级做显微的PL光谱测试

□ 可升级做EL电致发光测量

□ 可升级做电场调制光谱

□ 可升级做透射、反射光谱测试


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