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E3  禾苗镀层测厚仪

E3 禾苗镀层测厚仪

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产品报价:
100元
公司名称:
深圳市禾苗分析仪器有限公司
所在地区:
深圳市
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产品型号:
E3
更新时间:
2015-03-30 09:56
厂商性质:
生产商
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禾苗镀层测厚仪E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF);其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;采用小光斑设计,对大型PCB板小测试点精确定位,避免材质干扰;开放性可调样品台,应对各种大型PCB板,无需拆分即可直接测试.

禾苗镀层测厚仪 详细信息


   E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF);专注于镀层厚度测试;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;采用小光斑设计,对大型PCB板小测试点精确定位,避免材质干扰;开放性可调样品台,应对各种大型PCB板,无需拆分即可直接测试.
● RoHS检测:Pb(铅)、Cd(镉)、Hg(汞)、Cr(铬)
● 卤素检测:Br(溴)、Cl(氯)
● 镀层测试:应对各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn等
辐射保护
● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线
● 辐射标志警示
●仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》
硬件技术
● X射线下照式,激光对焦可调样品仓,对于大件样品、异形不平整样品,无需拆分打磨,可直接测试
● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率
● 最小光斑0.2mm,可针对各种样品中的小测试点精确定位,避免材质干扰,测量结果更准确
● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计
●电路系统符合EMC、FCC测试标准
软件技术(HeLeeX ED Workstation V3.0)
● 分析元素:Na~U之间元素
● 分析时间:90秒
● 界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作
● 数据一键备份,一键还原、一键清理功能,保护用户数据安全
● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度
● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。
探测器
● 类型:X123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)
● Be窗厚度:1mil
● 晶体面积:25mm2
● 最佳分辨率:145eV
● 信号处理系统:DP5
X射线管
● 电压:0-50v
● 最大电流;2mA
● 最大功率:50W
● 靶材:Mo
● Be窗厚度:0.2mm
● 使用寿命:大于2w小时
高压电源
● 输出电压:0-50Kv
● 灯丝电流0-2mA
● 最大功率:50w
● 纹波系数:0.1%(p-p值)
● 8小时稳定性:0.05%
摄像头
● 焦距:微焦距
● 驱动:免驱动
● 像素:500万像素
准直器、滤光片
● 系统:快拆卸准直器、滤光片系统
● 材质:多种材质准直器
● 光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选
● 组合:多种滤光片(软件自动切换)、准直器组合
十字激光头
● 光斑形状:十字线
● 输出波长:红光650nm
● 光学透镜:玻璃透镜
● 尺寸:Φ10×30mm
● 发散角度:0.1-2mrad
● 工作电压:DC 5V
● 输出功率:<5mW
● 工作温度:-10~50℃
● 储存温度:-40~85℃
其它配件
● 开关电源:进口高性能开关电源
● 散热风扇:进口低噪声、大风量风扇
● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)
● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)
●仪器重量:50kg
●供电电源:AC220V/ 50Hz
●最大功率:330W
●工作温度:15-30℃
●相对湿度:≤85%,不结露


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