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铜上镀镍  X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片

铜上镀镍 X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片

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公司名称:
上海朴维商贸有限公司
所在地区:
上海市
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产品型号:
铜上镀镍
更新时间:
2015-08-05 15:03
厂商性质:
生产商
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本网采购热线:0571-87759942

X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片

品牌:美国calmetrics Ni/Cu型铜上镀镍标准片系列

calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司,其专门为仪器大厂如Fischer(菲希尔)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本电测)Thermo(热电)、Veeco、Micro Pioneer等生产制作标准样品。

应用:适用于Fischer(菲希尔

X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准 详细信息

X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片 

品牌:美国calmetrics   Ni/Cu型铜上镀镍标准片系列

calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司,其专门为仪器大厂如Fischer(菲希尔)Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本电测)Thermo(热电)、VeecoMicro Pioneer等生产制作标准样品。

应用:适用于Fischer(菲希尔)Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本电测)Thermo(热电)、VeecoMicro PioneerSeiko等各厂牌X-ray测厚仪(膜厚计)。


特色:X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片A2LA校正认证,质量精良,精度高、稳定性好;

       测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

     所有X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片都附有NIST认证证书我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片,并附有X射线荧光测厚仪(膜厚仪)标准片厚度值证书.


可制作厚度:0.5-25um

以下为常见性厚度:
CSNI40CU999 Ni/Cu 40u" (1.00um)
CSNI80CU999 Ni/Cu 80u" (2.00um)
CSNI100CU999 Ni/Cu 100u" (0.25um)
CSNI200CU999 Ni/Cu 200u" (5.00um)
CSNI400CU999 Ni/Cu 400u" (10.0um)
CSNI800CU999 Ni/Cu 800u" (20.0um

标准片每片厚度均通过美国国家标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)鉴定机构认证(有证书),其专门为仪器大厂如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生产制作标准样品。 

应用

底材

可制作范围

Ag/Cu

20-2000uin

Au/KVR

可伐

1-300uin

Au/Ni

1-300uin

Cd/Fe

20-1200uin

Cu/Fe

20-1200uin

Cr/Fe

20-800uin

Ni-P/Al

20-800uin

Ni-P/Cu

20-800uin

Ni-P/Fe

20-800uin

Ni-P/KVR

可伐

20-800uin

Ni/Cu

20-1000uin

Ni/Fe

20-1200uin

Ni/Kvr

可伐

20-1000uin

Pd/Ni

5-250uin

Rh/Ni

4-200uin

Sn/Cu

40-2500uin

Zn/Fe

20-1300uin


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