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LY-2006  颗粒图像分析仪

LY-2006 颗粒图像分析仪

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产品报价:
面议
公司名称:
北京恒奥德仪器仪表有限...
所在地区:
北京市
产品型号:
LY-2006
更新时间:
2015-12-24 13:51
厂商性质:
生产商

联系人:李经理 18911282105/010-51655247

(联系我时,请说明是在中国仪表网上看到,谢谢!)

颗粒图像分析仪
• 测试范围:1-3000微米;
• 显微镜:中外合资光学显微镜(可选配其他种类显微镜,如进口显微镜、金相显微镜等);
• 数字摄像机:300万像素;
• 最大光学放大倍数:1600倍;

颗粒图像分析仪 详细信息

 颗粒图像分析仪/显微图像分析系统/显微图像仪 型号LY-2006  

 LY-2006型显微图像分析系统是我公司研制的一种图像法颗粒分析仪器。它是传统的显微镜法与现代的图像处理技术相结合的产物。它的基本工作流程是通过数字摄象机抓拍颗粒在显微镜下的图像并传输到计算机中,通过专业的颗粒图像分析软件对图像进行处理与分析, 经显示器和打印机显示和输出分析结果。本仪器具有直观、准确、测试范围宽等特点,不仅可以直接观察到颗粒形貌,还可以计算出每个颗粒粒径和圆形度以及粒度分布和圆形度分布,为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。

一、LY-2006颗图像分析仪基本参数

  •     测试范围:1-3000微米;
  •     显微镜:中外合资光学显微镜(可选配其他种类显微镜,如进口显微镜、金相显微镜等);
  •     数字摄像机:300万像素;
  •     最大光学放大倍数:1600倍;
  •     系统总放大倍数:5000倍;
  •     最大分辨率:0.1微米/像素;
  •     重复性误差:<3%(不包含样品制备因素造成的误差)。


 

二、数字摄像机基本参数

  •     像素尺寸:3.2μm X 3.2μm
  •     传感器类型:逐行扫描CMOS
  •     输出颜色:bayer彩色;
  •     数据位数:红绿蓝各108
  •     光学尺寸:1/2英寸;
  •     镜头接口:CS,C
  • http://www.51658042.com
  •     信噪比:43dB
  •     动态范围:60dB
  •     清晰度:>1000线;
  • http://www.51658042.com
  •     曝光方式:ERS
  •     同步方式:外触发或连续采集;
  •     输出方式:USB2.0
  •     数据传输距离:数据传输距离5米(加中继可达25m);
  •     可编程控制:图像尺寸、亮度、增益、帧率、曝光时间;
  •     供电要求:5V
  •     功耗:<2.25W
  •     外形尺寸(mm):54.5x54.5x46.1(含接圈)、38x38x38.7(不含接圈)。


 

三、仪器组成与图像分析原理

  • 仪器组成:
  •     LY-2006型显微图像分析系统包括粒度分析软件、数字摄像机、显微镜、电脑、打印机等组成部分。
  •    
  • 分析原理:
  •     通过对颗粒数量和每个颗粒所包含的像素量的统计,计算出每个颗粒的等效面积圆和等球体积,从而得到颗粒的等效圆面积直径和等球体积直径以及圆形度等参数,再对所有的颗粒进行分级统计,从而得到粒度分布、圆形度分布等信息。


 

四、LY-2006颗粒图像分析仪软件功能

LIRI-2006颗粒图像分析仪测试结果图片

  • 图像处理功能:
  •     对图像进行灰度转换,二值化,分割,删除,剪切,粘贴,缩放,填充等一系列处理,得到颗粒清晰的黑白二值化图像。
  •    
  • 数据处理功能:
  •     通过对图像进行处理,测量软件自动统计出颗粒个数,然后计算每个颗粒所包含的像素数,得出颗粒的面积、等效直径、等效周长、实际周长、圆形度等参数。通过粒度分级,得到用户需要的粒度分布表和分布图以及d10d50d90等典型参数,并可根据需要选择个数分布或体积分布。
  •    
  • 软件输出项目:
  •     包括原始数据(样品信息和测试信息);分析数据(粒度分布表/粒度分布图);图形(频率分布直方图和累计分布曲线);典型结果(中位径,平均径,圆形度等)。
  •    
  • 报告输出功能:
  •     可以打印原始图像和多种测试报告,包括粒度报告,图像报告,圆形度报告以及粒度和典型图像的综合报告。


 

软件操作流程


 

五、LY-2006颗粒图像分析仪适用领域

  •     研磨材料:白刚玉、金刚石、碳化硅、碳化硼、氧化铈等;
  •     电池材料:石墨、钴酸锂等;
  •     其他:可用来观察各种非金属粉、金属粉以及其他粉体。

    


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