1、介电常数的影响 低介电常数和变介电常数的被测介质，优选导波雷达。低介电常数液体介质反射信号弱，信号衰减严重，物位波动和泡沫散射引起信号减弱，罐内障碍物反射引起虚假信号，为此就需要发射较强的电磁波信号，并采用功能强的微处理器进行复杂的信号处理。这就使得常规交流供电雷达物位计价格非常昂贵，但仍难以较好的解决在上述条件下的物位测量问题。导波雷达和常规雷达一样，采用传输时间来测量介质物位，信号自烃类[介电常数2~3]液体表面或自水[介电常数80]面反射回传的时间一样的，不同的只是信号幅度[强度]的差别。普通雷达须考虑介质的影响，比较难辩识返回的各种信号，从杂散信号中检出真正的物位信号，而导波雷达仅需测量电磁波的传输时间即可，无需信号的处理和辨别。 
2、固体物料测量 对于粉状物料，可以选择缆式导波雷达。由于微波在钢缆中传输，物料在输送过程中产生的粉尘对测量没有影响。对于颗粒状或块状物料，须选用高频雷达物位计。而且微波的发射角愈小愈好。因为微波的频率越高，微波的波长越短，保证发射出去的雷达波能够在粗糙的固体表面反射回雷达探头，发射角愈小，形成杂波和漫发射的概率就越小。 
3、液体、物位的测量 对于液面相对平稳的罐体，且被测液体的介电常数较高，可以选择普通雷达物位计。对于液面波动大、或带有搅拌的罐体，或被测液体的介电常数较低，应优选导波雷达。因为导波管对液面有整型作用，且导波雷达的微波反射不易受环境条件变化的影响。被测液体的介电常数和密度变化对测量结果没有影响。对于被测液体的粘度≥500cst，且液体粘附性较强的情况，不能选择导波管方式测量，因为粘附和结晶会堵死导波管。从而形成虚假物位。可以选择导波杆方式来测量。当介质在探头上的涂污对测量物位的影响可分为两种：膜状涂污和桥接。膜状涂污是在物位降低时，高粘液体或轻油浆在探头上形成的一种覆盖层。由于这种涂污在探头上涂层均匀，因此对测量基本无影响；但桥接性涂污的形成却能导致明显的测量误差，当块状或条状介质污垢粘结于波导体上或桥接于两个波导体之间时，就会在该点测得虚假物位。
4、雷达物位计的基本设定 
（1) 根据物位计测量储罐的形状，设定储罐特性。
（2) 根据检测介质的特性设定介电常数。
（3) 在过程条件一项选择所测介质的过程变化情况，如果是杆式的雷达物位计，还应该设定探头底部的接触情况。 
（4) 接下来按照工艺要求设定物位计的空标和满标值，如果是导波管的还应该设定导波管的直径。
（5) 根据设定的空标值做全程抑制。