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仪表网>全部分类 >分析检测 >其它通用分析仪器 >离子迁移谱仪
离子迁移谱仪

IMS,是离子迁移谱(Ionmobilityspectroscopy)的简称,离子迁移谱(ionmobilityspectrometry,IMS)技术是从20世纪60年代末发展起来的一门检测技术,它以离子迁移时间的差别来进行离子的分离定性,借助类似于色谱保留时间的概念,起初被称为等离子体色谱。基于气相离子在弱电场中的迁移率来检测识别不同种类物质的一种常压分析化学方法,又被成为常压质谱。[1]IMS在环境气压条件下进行工作.。特别适合于一些挥发性有机化合物的痕量探测,如毒*、爆*物、化学战剂和大气污染物等。IMS系统的核心部分是迁移管,迁移管分

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离子迁移谱仪

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  • 离子迁移试验设备

    离子迁移试验设备,在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。
  • 离子迁移实验装置

    离子迁移实验装置 原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
  • 离子迁移实验装置 绝缘可

    离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
  • 离子迁移实验装置绝缘电阻

    离子迁移实验装置绝缘电阻值测试,在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。
  • 离子迁移实验装置

    离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压, 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生, 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
  • J-RAS代理

    J-RAS代理离子迁移试验装置 CAF测试,ECM-100是可以单独试验的ALL-IN-ONE检测系统,并且重要的试验数据被保存到CF存储卡。作为系统构成我们准备了40CH/100CH型,可以根据您的预算、设置空间来进行选择。
  • CAF试验/CAF测试

    CAF试验/CAF测试是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ),并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
  • 离子迁移试验装置

    离子迁移试验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验。
  • HVUα_2000V离子迁移实验

    离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。( ION MIGRATION TEST......
  • HVUα_1000V离子迁移实验

    离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。( ION MIGRATION TEST......
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