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X荧光镀层测厚仪X-Starata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
X荧光镀层测厚仪X-Starata920厂家产品优势
1、高性能、高精度、*稳定性
快速精确的分析带来生产成本*化
精确测定元素厚度
优化的性能可满足广泛的元素测量
2、坚固耐用的设计
可靠近生产线或在实验室操作
生产人员易于使用
3、简单的校准调试
在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果
方法建立只需几分钟
我们提供认证标准片以确保良好精确度（A2LA 和 ISO/IEC17025）
预置了多种校准参数
4、可分析多种样品形状和尺寸
可分析多种样品类型，从微小的电子元件到浴室配件
提供多种硬件供选配，满足各种需要
X荧光镀层测厚仪X-Starata920厂家仪器特点：
1．仪器外观选用*的流线型设计，时尚雅致。
2．同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。
3．可以分析zui多5层镀层，一次可分析元素多达24种。
4．无需复杂的样品预处理过程，无损测试。
5．检出限可达到2ppm。
6．分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
7．采用美国原装、*的探测器，能量分辨率高。
8．采用美国原装、*的AMP，处理速度快，精度高，稳定可靠。
9．X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。
10．采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品。
11．采用电动无极控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便。
12．采用双激光对焦系统，准确定位测量位置。
13．高度传感器。
14．保护传感器，有效保护探测器。
15．精确度高，稳定性好，故障率低。
16．辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保护，辐射安全性可靠。
X荧光镀层测厚仪X-Starata920厂家技术参数
项目名称 | 具体描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X射线激发系统 | ·垂直下照式X射线光学系统 ·50W（50kV，1.0mA）空冷式微聚焦型钨W靶X射线管 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
准直器系统 | ·单准直器组件； ·多准直器自动控制组件：zui多可同时装配6种规格的准直器 ·园形、正方形、矩形和多种规格尺寸准直器任选（红色为常用的）：
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样品室 | 开槽式样品室，测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的线路板 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
项目名称 | 具体描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X射线激发系统 | ·垂直下照式X射线光学系统 ·50W（50kV，1.0mA）空冷式微聚焦型钨W靶X射线管 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
准直器系统 | ·单准直器组件； ·多准直器自动控制组件：zui多可同时装配6种规格的准直器 ·园形、正方形、矩形和多种规格尺寸准直器任选（红色为常用的）：
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测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样品室 | 开槽式样品室，测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的线路板 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样 品 台 |
固定样品台 ·Z轴自动控制，移动行程：43mm （1.7"），XY轴手动控制 ·zui大样品高度33mm ·仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×305mm（16×30.3×12"） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
加深样品台 ·Z轴自动控制，移动行程：43mm （1.7"），XY轴手动控制 ·zui大样品高度160mm ·样品仓有4个位置卡槽，相邻卡槽垂直间距25.4mm，样品台支架可放置在不同位置的卡槽上，可测不同高度的样品 ·样品仓内部尺寸（宽×深×高）：279×508×152mm（11×20×6”） ·仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×400mm（16×30.3×15.7"） ·自定义样品台：依据客户要求提供更高的样品台，满足高度＞160mm的样品测量，仓内设置多个位置卡槽，相邻卡槽垂直间距25.4mm
自动样品台 ·Z轴自动控制，移动行程：43mm（1.7"） ·XY轴自动控制，样品台移动行程：178×178mm（7x7”） ·zui大样品高度33mm ·样品台尺寸（宽×深）：610×560mm（24×22”） ·仪器外形尺寸（宽×深×高）：610×1037×375mm（24×40.8×14.8"） ·可提供对样品的自动和编程控制，多点测量 ·鼠标控制样品台移动，精确地定位样品测量点 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
镭射聚焦 | ·镭射用于自动精确定位X射线光管/探测器与样品到测试距离 ·单击鼠标，Z轴自动扫描 ·Z轴自动聚焦到焦距12.7mm，同时将样品图像定焦（显示在屏幕上） ·避免了人为操作误差 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样品观察系统 | ·高分辨率彩色CCD观察系统，标准光学放大倍数为30倍 ·可选50倍和100倍观察系统 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
结果输出 | ·测量数据报告可直接打印或一键导出到PDF文件、Excel文件，为质量管理保留宝贵的原始资料 ·测量数据报告可包含测量数据、测量样品图像、各种统计分析图表、自定义的报告模板（系统预置模板、含用户信息的自制模板） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
计算机系统配置 | ·IBM计算机 ·佳能彩色喷墨打印机 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
分析应用软件 | ·操作系统：Windows XP中文平台 ·分析软件包：SmartLink FP软件包 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
系统安全性 | ·Z轴保护传感器 ·安全防射线光闸 ·样品室门开闭传感器 ·X射线锁 ·X射线警示灯 ·紧急停止按钮 ·前面板安全钮和后面板安全锁 ·多用户密码保护，只向日常操作员设定有限的*，操作界面简单，功能受限 ·主管人员可进行系统维护 ·系统自动生成操作员的使用记录 ·开启“自动锁定”功能可以防止未*人员使用；测量结束后，超过预设的时*，软件锁定并要求输入密码 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
测量自动化功能 | 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot” | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
测量位置预览功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
激光对焦和自动对焦功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
统计计算功能 | 平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
数据分组、X-bar/R图表、直方图 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
数据库存储功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
测量精度
膜厚范围 | *层（zui上层） | 第二层 | 第三层 |
小于0.5 µm （20 µin） | + 1 µin 或更好 | + 2 µin 或更好 | + 3 µin 或更好 |
大于0.5 µm | + 5% 或更好 | + 10% 或更好 | + 15% 或更好 |
含量 | *层 | 第二层 |
1--99 wt % |
| + 3 wt % 或更好
|
