NKCV/HS2100F 数显覆层测厚仪 美国 型号：NKCV/HS2100F

产品简介:

概 述：
  本仪器是一种便携式测量仪,可以快速、损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。配置不同的探头，适用于不同场合。是材料保护和生产控制仪器。 
适用范围： 　　
  NKVV/HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。 
主要功能： 
可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量；
三种校准方法： 一点校准、二点校准、基本校准；
显示分辨率： 0.1μm（测量范围小于100μm） 
1μm （测量范围大于100μm） 
有两种工作方式：直接方式和成组方式
有两种测量方式：连续测量和单次测量
有两种关机方式：手动关机和自动关机
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警，并可用直方图对一批测量值进行分析；
有删除功能：对粗大误差及错误设置可进行删除处理；
打印功能：可打印测量测量值、统计值、限界、直方图 
测量范围： （1）F400探头、N400探头：0—400μm
（2）F1探头、F1/90探头、N1探头：0—1250μm
（3）F10探头：0—10000μm
（4）CN02探头：10-200μm（根据测量要求选用不同探头） 
测量精度： 不同探头精度要求不同
（1）F400探头、N400探头：一点校准：（2%+0.７）；二点校准：（1%+0.７）
（2）F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头：一点校准：（2%+1）；二点校准：（1%+1）
（3）F10探头：一点校准：（2%+10）；二点校准：（1%+10） 
使用温度： 0～40℃ 
外型尺寸： 150×80×30m 
重 量： 250g