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FLS 106 IC set ，IC高频近场扫描仪可以在电子组件的集成电路上方，借助ICR-近场微探头对频率在6GHz以内的高频磁场或电场进行高分辨率（50-100µm）测量。 使用近场探头和带有SH 01探头支架的场源 使用ICR-探头（旋转单元） 工作状态下对集成电路的采样 四轴定位系统 可提供一个扫描台 GND/CB 和附件随后交付 顾客进行测试时用到的其他附件在协商后也包含在供货范围
FLS 106 IC set IC高频近场扫描仪内容：
1x FLS 106 IC
1x CS-Scanner, ChipScan-Scanner
1x GND 25
1x DM-CAM
1x Rotary unit
1x DM-CAM holder.3, SMA
1x FLS 106 IC acc
技术参数：
| 电源电压 |
110 / 230 V |
| 接口 | USB |
| x,y,z 轴 | |
| 大过程路径 | (400 x 600 x 125) mm α-Rotation ±180° |
| 小过程路径 | (20x 20 x 20) µm α-Rotation 1° |
| 移动速度 | （65x65x65） mm/s α-Rotation 90°/s |
| 重量 |
75 kg |
| 尺寸 (L x W x H) | (1030 x 775 x 990) mm |
FLS 106 IC主机
| 源电压 |
110 / 230 V |
| 接口 | USB |
| x,y,z 轴 | |
| 大过程路径 | (400 x 600 x 125) mm α-Rotation ±180° |
| 小过程路径 | (20x 20 x 20) µm α-Rotation 1° |
| 移动速度 | （65x65x65） mm/s α-Rotation 90°/s |
| 重量 |
75 kg |
| 尺寸 (L x W x H) | (1030 x 775 x 990) mm |
ChipScan-Scanner 软件
ChipScan-Scanner软件用于自动测量电子组件的近电场和近磁场，该软件可以在电子组件上方的某一平面或某一空间范围内进行检测，可以显示测量结果。从而精确快速的评估近场，并对测量结果进行多种处理和分析；还能方便地输出图像和数据，例如文档或进一步的数学分析。
| 系统要求 |
|
| 操作系统 | Windows 7 64-bit (latest service packs) |
| 显示器分辨率 | (1280 x 1024) px |
| 硬盘容量 | 1 GB |
| 外部设备 | CD drive for installation |
| 推荐的系统要求 |
|
| 处理器 | 英特尔Core i7 2.7 GHz |
| 内存 | 8 GB |
| 显示卡 | AMD Radeon 7950 |
| 显卡内存 | 3 GB |
