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SR-LEDW-5N分光辐射计日本TOPCON拓普康量程极为宽广，低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度；
可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性，是目前行业内的*产品，
同时也是TOPCON SR系列产品中的旗舰机型。通过搭载的FIX模式，实现了测定条件的自动化功能，
从而大幅缩短了测定同一样品时的连续
SR-LEDW-5N分光辐射计日本TOPCON拓普康
特征
￭ 量程特别宽广，宽至0.0005～5,000,000cd/m²。
￭ 搭载FIX模式，可大幅缩短生产线上的连续测定时间(和本公司原有产品比较，可缩短1/2时间)
￭ 提升了灵敏度的均衡性能，从而能轻松测定LED芯片。
￭ 装上照度接口（选配件）后，还能够测定照度（lx）。
￭ 光谱波宽、半波宽5nm SR-LEDW-5N分光辐射计日本TOPCON拓普康
| 光亮采集 | 电子冷却型线性阵列传感器 |
|---|---|
| 波长分散原理 | 衍射光栅 |
| 光学系统 | 对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5° |
| 测定角 | 2°/1°/0.2°/0.1° *电动切换式 |
| 测定距离 | 350mm - ∞ (从物镜金属件前端开始的距离) |
| 光谱波宽 | 5nm *半波宽 |
| 波长精度 | 0.3nm *Hg 波宽线上 |
| 测定波长范围 | 380 - 780nm |
| 波长分解能力 | 1nm |
| 测定模式 | 自动/手动 (积分时间/频率) / 外部垂直同步信号输入 |
| 测定内容 | 分光辐射亮度 : W･sr-1･m-2･nm-1 |
| 演算内容 | 辐射亮度 Le : W･sr-1･m-2, 亮度 Lv : cd･m-2, |
亮度测定范围(*1) (*2) | 2°：0.0005 - 1,500,000 cd/m2 1°：0.0015 - 4,500,000 cd/m2 0.2°：0.0375 - 5,000,000 cd/m2 0.1°： 0.15 - 2,000,000 cd/m2 |
| 亮度精度(*1) | ±2% 以下 |
| 色度精度 (*1) | ±0.002 |
| 重复精度: 亮度(*3) | 1.5% ： 0.0005～0.005 cd/m² 0.4% ： 0.005～0.1 cd/m² 0.3% ： 0.1 cd/m²以上 |
| 重复精度: 色度(*4) | 0.005 ： 0.0005～0.005 cd/m² 0.0015 ： 0.005～0.1 cd/m² 0.0005 ： 0.1 cd/m²以上 |
| 偏光特性 | 亮度 : 1％ 以下, 分光辐射亮度 : 2％ 以下 (400 - 780nm) |
| 测定时间(*5) | NORMAL 模式: 约1 - 248秒 HIGH SPEED 模式: 约1 - 17秒 |
| 界面 | RS-232C, USB 2.0 |
| 电源 | AC 电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz |
| 功率 | 约 36W |
| 使用条件 | 温度: 5 - 30℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露) |
| 外形尺寸 (W×D×H) | 150×406×239mm |
| 质量 | 约 5.5kg |
*1 针对标准A光源
*2 NORMAL SPEED模式测定时的测定范围
*3 测定角2°、连续测量10次2σ、NORMAL SPEED模式
*4 测定角2°、连续测量10次（大值-小值）、NORMAL SPEED 模式
*5 和PC的通信时间除外
测定直径
测定直径: mmφ
| 测定角 | 测定距离 [mm]* | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 350 | 500 | 800 | 1000 | 2000 | |
| 2° | 10.0 | 15.1 | 25.4 | 32.2 | 66.4 |
| 1° | 4.99 | 7.55 | 12.7 | 16.1 | 33.2 |
| 0.2° | 1.00 | 1.51 | 2.54 | 3.22 | 6.64 |
| 0.1° | 0.50 | 0.76 | 1.27 | 1.61 | 3.32 |
* 从物镜金属件前端开始的距离.
