便携式金属硬度检测 Equotip 550 Leeb-硬度计

金属硬度检测 Equotip 550 Leeb

产品规格

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性能与优点

Equotip 550 是便携式硬度检测功能齐全的一体化解决方案。 里氏硬度原理基于动态（回弹）法，适用于重型、大型或已安装部件的现场检测。

结合 Equotip Portable Rockwell 探头，Equotip 550 可使用传统的洛氏硬度静态检测法。 这将能够在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值。

新一代 Equotip 触摸屏装置提供由行业专家精心设计的界面，提高了检测效率和改善用户体验。 改进的软件可提供互动向导、自动验证进程、个性化选项和自定义报告功能。 此外，该仪器可兼容后续开发产品。

迄今为止，Proceq 的 Equotip 已经成为广泛认可的测量技术和行业标准。 Equotip 装置*众多行业对无损硬度检测的要求。

特色/应用/标准化/技术数据

Equotip Leeb

• 根据需要自动转换至所有通用的硬度单位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
• 自动更正冲击方向确保高准确度 ± 4 HL（硬度为 800 HL 时，准确度为 0.5%）
• 测量范围广泛，可利用各种冲击装置和支撑环来满足绝大多数的硬度检测要求。
• 每个冲击装置均可使用硬度范围广泛和精确的硬度测试块，，用于定期验证。

Equotip 550 Touchscreen Unit

• 模块化概念： 利用各种型号的探头和配件灵活配置各种行业应用
• 组合法： 在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值
• 引导向导： 预定义工作流以增强进程可靠性和提高测量精确度
• 自动验证： 根据 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步验证
• 互动指南： 通过屏幕通知为您的应用获取相关的设置
• 转换曲线： 直接在仪器上创建、编辑和验证转换曲线
• 自定义报告： 模块化报告处理器允许自定义测量报告
• 自动选项： 将 NDT 自动操作集成至质量管理系统和自动检测环境
• 外壳经过特殊设计，可用于严苛的现场环境 (IP 54)，包括背带、集成支架和遮阳盖
• 高分辨率彩色显示屏
• 电池使用时长 > 8h
• 8 GB 闪存
• 双核处理器，支持各种通信接口和外围接口： 探头连接器、USB 主机、USB 装置和以太网
• 通过直接兼容后续开发产品，实现未来保障投资

• 里氏回弹硬度检测主要用于金属测量，还可用于复合材料、橡胶和岩石检测
• 合适用于材料挑选、验收和生产环节检测
• 合适用于重型和大型部件安装前后的现场检测
• 方便用于难进入或空间有限的金属硬度检测场地

Proceq 提供一些附件，例如一个测量夹或几个支撑脚，适合在各种测试件结构上进行手动硬度测量

标准

• ASTM A956 / E140 / A370
• ISO EN 16859（即将发布）
• DIN 50156
• GB/T 17394
• JB/T 9378

准则

• ASME CRTD-91
• DGZfP Guideline MC 1
• VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
• Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

仪器

• 显示屏 7” 彩色显示屏 800 x 480 像素
• 内存 内置 8 GB 闪存（可存储多达 1000000 个测量值）
• 区域设置 公制和英制单位，支持多种语言和时区
• 电池 锂聚合物，3.6 V、14.0 Ah
• 电池使用时长 > 8h（标准操作模式下）
• 电源输入 12 V +/-25 % / 1.5 A
• 重量（显示装置） 大约 1525 g（含电池）
• 尺寸 250 x 162 x 62 mm
• 湿度 < 95 %RH，非冷凝
• 操作温度 0°C 至 30°C（32 至 86°F） （正在充电且仪器正在运行）

               0°C 至 40°C（32 至 104°F）  （正在充电且仪器关闭）

              -10°C 至 50°C（14 至 122°F）  （未充电）

• 环境 适合室内与室外使用
• IP 等级 IP 54
• 污染等级 2
• 安装类别 2

Equotip Leeb 冲击装置

• 测量范围 1-999 HL
• 测量精度 ± 4 HL（800 HL 时为 0.5 %）
• 分辨率 1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB；
             0.1 HRC；0.1 HS；1 MPa (N/mm2)

• 冲击方向 自动补偿（DL 探头除外）
• 冲击能量 
• D、DC、E、S 探头为 11.5 Nmm
• DL 探头为 11.1 Nmm
• C 探头为 3.0 Nmm
• G 探头为 90.0 Nmm

冲击体质量 

• D、DC、E、S 探头为 5.45 克（0.2 盎司）
• DL 探头为 7.25 克（0.26 盎司）
• C 探头为 3.10 克（0.11 盎司）
• G 探头为 20.0 克（0.71 盎司）

球压头 

• C、D、DC 探头为碳化钨，直径 3.0 毫米（0.12 英寸）
• DL 探头为碳化钨，直径 2.78 毫米（0.11 英寸）
• G 探头为碳化钨，直径 5.0 毫米（0.2 英寸）
• S 探头为陶瓷，直径 3.0 毫米（0.12 英寸）
• E 探头为多晶金刚石，直径3.0 毫米（0.12 英寸）

操作温度 –10˚C 至 50˚C（14 至 122°F）