TD100 一体化里氏硬度计

一体化里氏硬度计 便 

一、产品概述

◆   是一种*的袖珍型硬度检测仪器，携带方便
◆   TD100配有D型冲击装置
◆ 直接测试大型、重型的试件或已安装*性的组装部件
◆ 可测试六种硬度制（HV、HRA、HRC、HRB、HB、HV、HS）  
◆ 可外接打印机，打印测试结果
◆ 英文界面，背光显示
◆ 传感器跟机身连接保证测量数据更精确
◆ 依据里氏硬度测量原理，可以对多种金属材料进行检测; 具有软件校准功能
◆ 可预先设置硬度值上、下限，超出范围自动报便用户批量测试的需要
◆ 液晶上有剩余电量指示图标，可实时显示电池剩余电量；具有充电过程指示，操作者可随时了解充电程度。
◆  有USB接口，可以方便、快捷地与PC机进行数据交换。可配备微机软件，具有传输测量结

◆ 环境温度：操作温度-20℃~+60℃
◆ 储存温度：-30℃~+60℃
◆ 相对湿度<90%
◆ 周围环境五强烈振动，无强烈磁场，五腐蚀性介质及严重粉尘

    TD100里氏硬度计是一种新型的袖珍式一体化硬度计，主要于测试金属材料的硬度，具有测试精度高、体积小、操作容易、携带方便，测量范围宽的特点。里氏硬度计是根据里氏（Dietmar Leeb）硬度测试原理设计而成，测出里氏硬度值经过程序自动转换成布氏，洛氏，维氏，肖氏等硬度值，还可以配置各种测试配件，来满足于各种测试条件和环境.主要于金属材料的快速硬度测试，特别适宜对大型零部件及不可拆卸部件的现场硬度测试。
一体化里氏硬度计 便携式笔式硬度计 TD100
四、技术参数

◆ 硬度制：里氏、布氏、洛氏B、洛氏C、维氏、肖氏
◆ 测量范围：（170-960）HLD,（17-68.5）HRC,（19-651）HB,（80-976）HV,（30-100）HS,（59-85）HRA,（13 -100）HRB                              
◆ 测量方向：360°（垂直向下、斜下、水平、斜上、垂直向上）
◆ 相对误差±0.8%、示值重复性*.8（HLD=800）（示值误差和重复性表一）
◆ 冲击装置：D型冲击装置（测试范围表）
◆ 测量工件的曲率半径：Rmin=10mm
◆ 测量工件的zui大硬度值：976HV
◆ 显示：高清晰点阵液晶，EL背光
◆ 数据存储：zui大500组（冲击次数32~1）
◆ 上下限设置范围：同测量范围
◆ 打印机：可外接打印机
◆ 工作电压：3.6V（内置锂电池及充电电路）
◆ 持续工作时间：约200小时（不开背光灯）
◆ 通讯接口标准：USB1.1通讯接口
◆ 外形尺寸：（220×24×55）mm
◆ 重量：约0.180kg（主机）
◆ 材料：钢和铸钢，合金工具钢，不锈钢，灰铸铁，球墨铸铁，铸铝合金，铜锌合金（黄铜），铜锡合金（青铜），纯铜，锻钢

五、仪器特点


◆ 经济，适合各个消费层次的购买使用
◆ 低功耗，待机时间长，可以连续工作200个小时              
◆ 操作简单使用方便“傻瓜”式操作
◆ 配有USB接口，可连接电脑打印机
◆ 造型美观，符合身体力学，更方便操作者使用

笔式硬度计/硬度计　型号：NORS80

NORS 80里氏硬度计是一款*的掌上型金属硬度测试仪。该仪器具有重量轻、易操作、集成化设计、高对比显示、低操作温度及高精度等特点，可以广泛应用于测量几乎所有磁性、非磁性金属材料，并具有里氏、洛氏C、洛氏B、洛氏A、布氏、维氏、肖氏及强度单位转换；特别小型的体积使其能够在其它硬度仪难以测量的狭小空间内进行测量。

NORS 80具有4组4000个数据的存储空间，内置的3.7V锂离子电池可通过电脑的USB接口直接充电，也可通过独立的电池充电器充电。

该仪器还具有一个非常*的功能—可以通过更换冲击体实现D/DL探头的互换。这种*的2合1探头相当于2个独立的探头。通过增加相应的附件（DL冲击体），该仪器可用于测量非常狭窄的表面如槽底，齿轮等使用D探头测量不到的位置。

标准配置：主机        1        

内置D型冲击装置       1

USB线                1

充电器               1

毛刷                 1

操作手册             1

测值报告             1

携带盒               1

蓝牙打印机           1

产品名称：数字式四探针测试仪 数字式四探针检测仪 产品型号：SZT-2000 数字式四探针测试仪 数字式四探针检测仪　型号：SZT-2000 SZT-2000A型数字式四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状 半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。 仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。 仪器电气箱主要由高灵敏的直流数字电压表和高稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能进行校验。 仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围广、结构紧凑、使用方便等特点，仪器于半导体材料厂、器件厂、科学研究部门、高等院校，对半导体材料的电阻性能测试及工艺检测。 仪器主要技术指标： 1．  范围：电阻率10-4—103Ω—cm，可扩展至105Ω—cm，分辩率为10-6Ω—cm         方块电阻10-3—103Ω /□         电阻10-6—105Ω 2．  可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm 3．  测量方式：轴向、断面均可（手动测试架） 4．  数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V    (2)测量误差 0.2mV档±（0.3%读数+8字）              2 mV档以上±（0.3%读数+2字）  (3)输入阻抗0.2mV、2mV挡105Ω              20mV档以上>108Ω  (4)显示3 1/2位数字显示，0—1999 具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示 5．  恒流源：（1）电流输出：直流电流0—100mA连续可调，由交流电源供给   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五档   （3）电流误差：±（0.3%读数+2字） 6．四探针测试探头  （1）探头间距：1mm   (2)探针机械游率：±0.3%                     (3) 探针：Φ0.5mm    (4)压力：可调  7. 测试架：  （1）手动测试架：探头上升及下降由手动操作，可以用作轴向和断面的单晶棒和硅片测试。  （2）电动测试架：探头的上升和下降由电动操作，设有自动控制器控制，探头上升时间1S—99S可调，探头下降时间1S—99S可调，压力恒定可调（由砝码来设定）同时设有脚踏控制装置由脚踏开关控制探头上下运动。   8.电流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W 9．    外形尺寸：电气箱130×110×400mm