DP-TT240 涂层测厚仪/测厚仪/数字式涂层测厚仪

涂层测厚仪/测厚仪/数字式涂层测厚仪  型号：DP-TT240

涂层测厚仪/测厚仪/数字式涂层测厚仪  型号：DP-TT240产品概述：

    本仪器是种手持式测量仪，它能快速、无损伤、地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。可广泛用于在制业、金属加工业、化工业、商检等检测域。本仪器是材料保护业的仪器。本仪器符合以下标准： GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》

涂层测厚仪/测厚仪/数字式涂层测厚仪  型号：DP-TT240功能点：

    本仪器采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
z 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
z 具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（APPL）；
z 设有五个统计量：平均值（MEAN）、Z大值（MAX）、Z小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
z 可行零点校准和二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差行修正；
z 具有存贮功能：可存贮350 个测量值；
z 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便行新的测量；
z 可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；
z 具有打印：可打印测量值、统计值；
z 具有与PC 机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC 机，以便对数据行步处理；
z 具有电源欠压指示功能；
z 操作过程有蜂鸣声提示；
z 具有错误提示功能；
z 具有自动关机功能

涂层测厚仪/测厚仪/数字式涂层测厚仪  型号：DP-TT240参数：

基本配置：

z主机
z标准片套（50um 100um 200um 500um 1000um）
z铝基体
z二节AA型（5号）1.5V电池
z仪器保护套

可选附件：DP-TA230打印机

四探针电阻率测试仪／四探针电阻率/方阻测定仪 型号：DP-2253
概述
  
      DP-2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
    仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。
    主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校功能；测试功能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作成，也可脱PC机由四探针仪器面板上立操作成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！
    探头选配：根据不同材料性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
    测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选DP-K型测试台，也可选配DP-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配DP-G型测试台测试橡塑材料电阻率。
      
    仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、 化程度、测量简便、结构紧凑、使用方便等点。
    仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本参数
3.1  测量范围
     电  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
    电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
3.2  材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
     直    径：DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
    DP-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
    长()度：测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.
    测量方位: 轴向、径向均可
3.3.  4-1/2 位数字电压表：
    (1)量程： 20.00mV～2000mV
   (2)误差：±0.1%读数±2 字
3.4 数控恒流源
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A
   (2)误差：±0.1%读数±2 字
3.5 四探针探头（选配其或加配全部）
    (1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调
   (2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调
3.6. 电源
    输入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W
3.7.外形尺寸：
    主   机  220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（）
   净   重：≤2.5kg

数字式四探针测试仪/电阻率/方阻测试仪 型号：DP-2258C
 
概述
      DP-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。 
      仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。 
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪赠设测试结果分类功能，Z大分类10类。 
      探头选配：根据不同材料性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。 
      测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选DP-K型测试台，也可选配DP-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配DP-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的点与选型参考》 
仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、 化程度、结构紧凑、使用简便等点。 
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量） 
    电    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω 
               （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω） 
    电 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm 
               （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm） 
    方块电阻：50.0×10-6 ～ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□  
               （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□） 
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
    直    径： DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    DP-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限. 
     长()度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     测量方位:  轴向、径向均可 
3. 量程划分及误差等 
满度显示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 
常规量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ --- 
Z大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□ 
基本误差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB
 
4.工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 
5.外形尺寸： 245mm（长）×220 mm（宽）×95mm（）  
   净   重：≤1.5～2.0kg

数字式四探针测试仪/电阻率/方阻测试仪　型号：DP-2258A

概述
       DP-2258A型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
      仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。
      主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪赠设测试结果分类功能，Z大分类10类。
      探头选配：根据不同材料性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
      测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选DP-K型测试台，也可选配DP-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配DP-G型测试台测试橡塑材料电阻率。

       仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、 化程度、结构紧凑、使用简便等点。
       仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率（可向下拓展1～3个数量，括号内为向下拓展3个数量）
     电    阻：1.0×10-3 ～ 200.0×105  Ω,    分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×104  Ω
                （1.0×10-6 ～ 200.0×102  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×102 Ω）
     电 阻 率：1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103  Ω-cm
                （1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101  Ω-cm）
     方块电阻：5.0×10-3 ～ 100.0×104 Ω/□  分辨率0.5×10-3 ～ 0.1×103  Ω/□ 
                （5.0×10-6 ～ 100.0×101 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×101  Ω/□）
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
   直    径： DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
   DP-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
   长()度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.
   测量方位:  轴向、径向均可
3. 量程划分及误差等
满度显示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 
常规量程 kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ 
Z大拓展量程 Ω-cm/□ mΩ-cm/□ μΩ-cm/□ 
基本误差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB

4) 工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5) 外形尺寸：W×H×L=215mm×85mm×190mm 
      净   重：≤1.5～2.0kg

微量移液器/移液器/微量移液枪 型号：DP27026
产品参数：
1µL～10µL/20µL～200µL/100µL～1000µL/500µL～5000µL

注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的