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XRF2000 測厚儀測量功能
Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱*.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任
XRF2000 測厚儀測量功能
Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱*.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度.
可测元素范围：
钛（Ti） – 铀（U）
可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV（程控）
准直器：
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
电脑系统：IBM相容,17”显示器
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
1. 可測綠油厚度（在 Cu 或其他金屬中）.方法是客戶自行準備二片不同厚度的板.先用其他方法把綠油厚度測出來.然後用此二片板做一檔案即可.誤差約15%.視乎不同厚度有所不同.
2. 可測板來料 Cu 厚度（選購件）.會另配一探頭於機上.可測 0.5oz 至 4.0oz Cu 厚度. 誤差約5%.視乎不同厚度有所不同.
3. 可測溶液濃度（選購件）.方法是先用 AA 機測溶液濃度.然後用此溶液做檔案即可.誤差約10%（視乎不同濃度有所不同）.
4. XRF2000 可測六層.誤差大約如下:*層（5%）.第二層（10%）.第三層（15%）.第四層（20%）.第五層（25%）.第六層為底材.誤差視乎不同原素不同厚度有所不同.
5. 以下是一些應用參考.
應用 XRF2000 可測範圍
Au/Ni/Cu Au 0.5-120uinch. Ni 10-400uinch.
Au/Ni-P/Cu Au 0.5-120uinch. Ni-P 10-400uinch.
SnPb/Cu Sn 40-3500uinch. Sn 60% 40-1500uinch. Sn 90% 40-2000uinch.
Ag/Cu Ag 4-2000uinch.
Au/XX Au 0.5-320uinch
Sn/Ni/XX Sn 10-350uinch. Ni 10-500uinch.
Sn/XX Sn 40-2500uinch.
