介电常数测试仪

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介
质
损
耗
测
试
仪
（介电常数试验仪 GDAT-c）
技术方案
北京北广精仪仪器有限公司
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中国检测行业与验证服务的*者和智领者，帮助众多检测质检单位和学校教研单位
提供一站式的全面质量解决方案。
绝缘材料的介质损耗自动测量解决方案简介
满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在
内）下电容率和介质损耗因数的*方法
高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT）、及
LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系
统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）自动测量的*解决方案。
1、《BH916介质损耗装置》（测试夹具）是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工
的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过
被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距
的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品，精密的加工设
计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。
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2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的zui高成就，
随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有*的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、
电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-
160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介
电常数（ε），把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取zui高的测试灵
敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。
GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测
Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，*摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工
材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）测量的理想工具。
3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT），实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须
繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算*的。
4、一个高品质因数（Q）的电感器是测量系统*的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容
（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统*的电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成，以适配不同
的检测频率。
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附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表
BH916测试装置GDAT高频Q表
平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
间距可调范围≥15mm 频率指示误差3×10-5±1个字
夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500/18-220pF
测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差<1%或1pF
夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz） Q测试范围2～1023
附表二,LKI-1电感组典型测试数据
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线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz
50MHz
233
211
0.9 0.125μH