显微熔点仪 熔点仪 型号:DP-SGW X-4
点:
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻法(热台片法)测定。
主要参数:
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)
±2℃(在20 .0℃ 320℃ 时)
X-4
X-4A
X-4B
温度显示Z小值
1℃
0.1℃
0.1℃
熔点观察方式
单目显微镜
单目显微镜
双目体视显微镜
光学放大倍数
40×
40×
40×-100×连续变倍
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