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荧光测厚仪,即x射线荧光镀层测厚仪,利用X-射线照射物体待测部位,从而使镀膜、素材及中间层膜产生特定的X-射线,检测系统将其转换为与X射线强度成比例的电信号,经由仪器记录处理即可得到镀膜的厚度。X射线荧光镀层测厚仪,有着快速、准确、非破坏、非接触、小面积测量、多层合金测量、高生产力、高再现性等优点,对产品质量管理及企业成本节约有着重要作用,广泛应用于电子元器件、半导体、PCB、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器等行业。我公司主打的荧光测厚仪有:
- MaXXi RoHS X荧光镀层测厚仪
- MaXXi 5/5PIN X射线荧光分析测厚仪
- MaXXi4X射线荧光分析测厚仪
- Compact 5/5PIN X射线荧光分析测厚仪
- EX-3000非接触荧光涂层测厚仪
- XRF-2000荧光金属镀层测厚仪
- Compact eco X射线荧光分析测厚仪
- X-Strata960X荧光镀层测厚仪
- CMI900X荧光镀层测厚仪
- XRF-5100 x射线金属镀层测厚仪
- XRF5000x-射线金属PCB镀层测厚仪
- SFT7000 X射线镀层厚度测量仪
- SFT3000 X射线镀层厚度测量仪
- SFT157X射线镀层厚度测量仪
- XAN-DPP射线光谱材料定量分析仪
- XDVM-W射线荧光镀层厚度测试仪
- XDL-B射线荧光镀层厚度测试仪
- XUL系列射线荧光镀层厚度测试仪
- XDVW-u射线荧光镀层厚度测试仪
- XDLM系列射线荧光镀层厚度测试仪
- XULM系列射线荧光镀层厚度测试仪
- FS® XUL测厚仪
- FS® X-RAY XDVM-µ测厚仪
- FS® XDL-B测厚仪
- COSMOS-1X荧光X线膜厚计
- FS® XDVM-W测厚仪
- EX-3000荧光X线膜厚计
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