CMI900 X-荧光镀层测厚仪

CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都先于*的测厚行业

A  CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层

（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定zui多5层、15 种元素。

B ：精确度先于世界C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；

如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。

D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；

E ：可测量任一测量点，zui小可达0.025 x 0.051毫米

样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
 一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 

二：自动样品台

1   程控样品台：XYZ轴自动控制。 
2   超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。 

CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：
1   全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品zui大高度为150mm，XY 轴程控移动范围为       300mm x 300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。 
2   Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品zui大高度为270mm。

3        全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品zui大高度为356mm。 
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。