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SDD探测器的计数率和分辨率，远高于SI-PIN检测技术，分析速度快了5倍。这意味着对所有元素检测限更低，结合FP校准模式，可检测所有矿石样品。
还可分析土壤、沉淀物、岩芯等样品的化学成份。
可选台式支架确保辐射安全，对特殊样品（如袋装的）进行测量，以保护环境。
对矿石开发与含量分析进行快速、精确分析
野外操作时，自由携带，非常方便
技术规格 | |
重量 | 1.7kg |
尺寸 | 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） |
激发源 | X射线管，Ag靶，40kV |
检测器 | XFlash®硅漂移检测器（SDD）, 检测速度快； 能量分辨率高：145eV, 计数率：100 kcps |
操作系统 | HP掌上电脑：Windows 5.0 Bruker 软件 |
冷却系统 | Peltier 电子冷却系统 |
电源 | 交、直流供电；3块充电锂电池，可连续工作12-18小时 |
环境条件 | 温度：-20℃～50℃ 湿度：0-95% |
电池充电器 | 交流充电器：110/220V，50/60Hz |
计算机/显示器 | 240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏 |
测量模式 | 牌号识别、定量分析、显示测量谱线、合格与否判定 |
数据传输 | USB，无线蓝牙，SD卡 |
数据存储 | 主机：512MB 存储卡：CF/SD卡，2GB，能存储几十万个牌号和测量数据 |
热表面适配器 | 热表面适配器，可测量500℃高温样品 |
安全 | 密码保护，设有多级安全锁 |
运输箱 | 减震、抗压、防水、密封仪器箱 |
支持语言 | 包括中、英文在内的12种语言 |
质保期 获得认证 | 整机2年 CE、TUV、IECEE、ISO9001：2000 |
