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仪表网>产品库>测量/计量>长度计量仪器>激光干涉仪>激光干涉仪MCV-4000
  • 激光干涉仪MCV-4000

MCV-4000 激光干涉仪MCV-4000

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号MCV-4000
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新时间2017-08-27
  • 厂商性质经销商
  • 入驻年限1
  • 产品数量5
  • 人气值314
产品标签

激光干涉仪

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美国光动公司(Optodyne Inc.)是一家八十年代在美国加州登记注册的公司。在加州康普顿市拥有2座厂房和80多位员工。公司以研制和生产激光多普勒干涉仪见长,相关产品的发明人王正平博士潜心研究和开发激光多普勒技术达30多年,目前在美国拥有系列产品的多项。目前该产品在的销售量不断增长。

美国光动公司生产的激光多普勒测量仪(简称LDDM)。该产品具有测量范围广、精度高、体积小、操作方便、价格便宜等诸多优点。该设备现已被美国波音(Boeing)、麦道(MacDonnell-Douglas)、洛克希德(Lockheed)、霍尼威尔(Honeywell)、费希尔(Fisher Control)、3M、诺斯洛普(Northrop Grumman)等诸多有名的公司购买和使用。产品连年通过美国标准技术局(NIST)的鉴定。在中国有上海市职工技术培训指导中心、上海飞机制造厂、上海交通大学和上海人造板机器厂;北京市有中国计量研究*、中瑞合资单位AGIE公司、北京京仪世纪自动化设备公司机床分公司和哈尔滨量具刃具厂等数十家单位购买和使用。产品曾多次通过中国计量*鉴定。仪器精度处于*地位。

美国光动公司标准型产品MCV-500激光多普勒测量仪,其结构精巧、功能齐全,非常适合于机床制造厂及机床使用单位。其基本功能可测量机床各轴位置精度,若加选Ball Bar附件,则具有球杆仪功能。您还可以选购空间三维测量功能,以分轴步进方式测量四条对角线,从而快速有效分析出机床空间误差及产生补偿资料。本产品能自动进行数据采集,并配有多种工业评定标准和软件,经数字处理后可以打印出测量结果的数据及图表。

MCV-500激光多普勒测量仪基本系统包括激光头、处理器、视窗软件、气压/气温材料温度传感器、平行反射镜等。特别是配用的视窗软件可在任何兼容的电脑上运行,如配用笔记本电脑就更轻巧,特别适用车间现场及携带外出作业。

为了满足用户的不同需要,我们有MCV-500、2002、3500、4000、5000等系列产品及其他选用配件,可以满足客户在测量位置精度(长度)、直线度(角偏)、垂直度、平面度、转台精度、速度、加速度和振动等多方面的测试要求。

美国光动公司(Optodyne, Inc)在中国上海和北京分别设立了全资子公司和办事处。本公司愿意与业内同仁共同致力与精密加工设备的测试、定位、计量和校正,使精密准确的测试手段更好地发挥作用,保证产品质量认证体系达到ISO标准。本公司备有多种相关的技术资料,欢迎来函来电索取。寻找您需要的信息。
点击展示更多内容
美国光动公司针对CNC 机床、CMM(三坐标测量机)及其它精密测量机器及平台测量,采用*的双光束设计,提供快速测量机床台面平面度及机器轴直线与角度误差测量。
激光干涉仪MCV-4000 产品详情

MCV-4000直线位移、角度、直线度、平面度及垂直度测量系统

美国光动公司针对CNC 机床、CMM(三坐标测量机)及其它精密测量机器及平台测量,采用*的双光束设计,提供快速测量机床台面平面度及机器轴直线与角度误差测量。 MCV-4000的四分仪与光学方镜同样能提供精密的垂直度与直线度测量。

美国光动公司的测量系统采用Laser Doppler Displacement Meter (LDDMTM )的技术,整套系统非常简洁,提供简单方便的保管与运输方式。简单的安装程序可节省整体机器的校准时间,并经NIST(美国国家标准技术局)验证, OPTODYNE激光校验系统可在低成本中保持高准确度要求。 MCV-4000双光束激光设计向使用者提供了单一仪器能简单操作直线和角度测量的能力,如同二个干涉仪一体,当其中一道光束监控角度资料时,另一道光束可监控直线定位情形。使用WindowsTM软件可于任何与 IBM兼容的计算机来执行,操作界面十分友善,可采集测量数据并根据不同工业标准来分析数据。

主要特色与效益

1、同步直线与角度数据采集

2、结构简单 、重量轻

3、易于调校与安装

4、自动数据采集

5、激光准确度经NIST验证

6、无三脚架及干涉镜

7、自动连续角度测量能力

8、自动环境补偿

9、支持NMTBA、VDI 、ISO及ASME B5.54标准

主要应用

1、CNC机床、CMM 、导螺杆及DRO校验准

2、平板校准

3、检验机器偏摆度、横摇度与直线度

4、机器轴垂直度

5、维护品质管制

技术规格

分辨率:

1、定位:         0.01微米

2、角偏:         0.2秒

3、直线度:       以双光束测量法测量:  0.01微米

                  以四象侦测仪测量:    0.1微米

测量精度

1、定位:         1ppm(即每米1微米)

2、角偏:         读数的0.2%

3、直线度:       以双光束测量法测量:  读数的0.2%

                  以四象侦测仪测量:    每米8微米

测量范围

1、定位:         10米(zui长可选购到60米)

2、角偏:         5米 (zui长可选购到30米)

3、直线度:       以双光束测量法测量:5米(zui长可选购到30米)

                  以四象侦测仪测量:  5米

zui大可测角偏(双光束):    ±10度

zui大直线度(横向):        0.5毫米(四象侦测仪)

光靶zui大移动速度:        1.8米/秒

电源:                    90~245VAC,50~60赫

操作环境:

1、温度:                 5~38℃(可选购0~40℃)

2、高度:                 0~3000米

3、相对湿度:             0~95%

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