2009 中国仪器仪表与测控技术发展观望与分析

本文来源：金湖虹润仪表有限公司 >>进入该公司展台,转载请注明出处

企业文化2009年04月30日 16:44人气：3683

由中国仪器仪表学会主办，《仪器仪表学报》、《电子测量与仪器学报》、《国外电子测量技术》、《电子测量技术》杂志社联合承办的“2009 中国仪器仪表与测控技术大会”将于2009年7月23~26日在哈尔滨举办。本次会议旨在促进我国仪器仪表与测控技术的发展，加快该领域的新理论、新方法、新技术的应用与推广，推进本行业产、学、研合作与交流。

　　首届CIMCTC会议于2007年6月在成都举行，第二届会议于2008年6月在湖南湘潭举办，历次会议规模均超过300人。往届会议期间，张钟华院士、高洁院士、杨士中院士、俞梦孙院士等我国仪器仪表与测控技术及相关领域的专家、学者出席会议并作专题报告，国内外许多家企业给与鼎力支持，使会议成为在本行业内具有很大影响力的交流平台。

　　2009`中国仪器仪表与测控技术大会将于2009年7月23日在哈尔滨召开。大会热忱欢迎广大同行踊跃投稿，大会面向以下10个专题征集学术论文。经审稿专家审阅，被录用论文将发表在《仪器仪表学报》增刊上，所有录用论文均进EI收录。

　　现将2009 中国仪器仪表与测控技术大会有关事宜通知如下：

　　一、会议专题

　　科学与实验仪器

　　通用仪器与仪表

　　传感与计量技术

　　光电子工程与通信

　　测控基础理论研究与前沿技术

　　复杂系统故障诊断、预测和健康管理

　　工程、结构、环境等安全检测与监控

　　测试技术与信号处理

　　工业过程控制与生产自动化

　　光、机、电一体化测试技术及其应用

关注本网官方微信随时阅专业资讯

加入本网采购群了解更多采购信息

@仪表网

延伸阅读

仪表网首页企业首页

全年征稿 / 资讯合作

联系邮箱：ybzhan@QQ.com

版权与免责声明

凡本网注明"来源：仪表网"的所有作品，版权均属于仪表网，转载请必须注明仪表网，//www.ybzhan.cn/。违反者本网将追究相关法律责任。
企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容，如涉及侵权、违规遭投诉的，一律由发布企业自行承担责任，本网有权删除内容并追溯责任。
本网转载并注明自其它来源的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。
如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。