导读：日前，IEC SC65B WG6（测量与控制装置试验和性能评定）工作组会议在上海召开。会议对过程控制系统标准、过程测量传感器标准等作了专题报告，并对IEC 61003-1Ed3和IEC 61003-2Ed2两个标准的CD稿进行了审查。
IEC SC65B WG6（测量与控制装置试验和性能评定）工作组会议于2013年10月23～24日在上海光大酒店召开。工作组成员IEC SC65B WG6召集人Dario FANTONI先生、专家Roberto REDAELLI先生、Takuya IIJIMA先生、范铠先生、罗娟女士、潘东波先生和代表德国西门子专家的朱自明先生，以及SAC/TC124/SC1秘书长李明华先生、SIPAI副院长、SAC/TC124副主任委员徐建平先生、SIPAI科办副主任陈廷炯先生和来自三菱公司、Emerson公司、ODVA现场总线组织、国电智深公司等相关行业企业代表共计15位专家出席了本次会议。
首日会议由IEC SC65B WG6工作组召集人Dario FANTONI先生主持。徐建平先生致欢迎辞。会议正式开始后，FANTONI先生先简要介绍了IEC SC65B WG6自上次会议以来的基本工作情况，然后作了关于过程控制系统标准的专题报告。随后，REDAELLI先生作了关于过程测量传感器标准的专题报告。徐建平先生在会上全面介绍了SIPAI仪表与控制系统试验和性能评定能力。与会专家认真听取报告后进行了热烈而深入的讨论，充分交换了意见，使标准编写方、产品生产方、产品使用方有了很好的沟通。第二天，工作组成员和代表们就IEC TS 62603 Guideline for Evaluating the Performances of Process Control Systems的DTS（技术规范草案）稿和IEC 62828 Reference Conditions and Procedures for Testing Industrial Measurement Transmitters–Part1:General Procedures for All Types of Transmitters和Part2:Specific Procedures for Pressure Transmitters的CD稿（委员会草案稿）进展情况进行了交流，讨论了上述DTS稿和CD稿所收到的意见，并审查了IEC 61003-1Ed3和IEC 61003-2Ed2两个标准的CD稿，明确了未来的工作方向和目标。会议期间，WG6工作组的专家还参观了上海工业自动化仪表研究院。
本次会议的顺利举行，促进了中国仪表行业与标准化组织的沟通交流，增进了标准化工作在行业、企业中的影响力，也使专家了解了目前中国的行业情况，对于加强中国与标准组织的联系，提高中国在标准化工作中的话语权具有重要意义。
