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新中国仪器仪表自主研发史(实验室仪器篇)

行业聚焦点中国仪表网2009年09月14日 14:10人气:4457

清光绪三十一年(1905年),清政府在京建立“权度制作所”,开始制造简单的度量衡器具。
到1949年,北京已能制造简易天平。
1955年,北京度量衡厂试制成功200型分析天平。最大称量200克,感量0.4 毫克。1957年,试制成功1-200型光学天平。最大称量200克,分度值0.1毫克。
1958年,该厂试制成功WT2型微量分析天平。最大称量20克,分度值0.01毫克。 1964年1月,北京光学仪器厂研制成功精度达百万分之一克的GZT3-2型精密天平。最大称量2克,分度值0.001毫克,游标微读0.0001毫克。
1975年,北京光学仪器厂同中国计量科学研究院合作研制成功BDT2-1型电子微量天平。最大称量2克,分辨率0.5微克。
1986年,该厂同北京光电技术研究所合作研制成功MD200-1型上皿电子天平。最大称量200克,电称量范围20克/1毫克、200克/10毫克。
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