东方测控

行业企业市场标准科技新品会议展会政策原创

国际IEEE-CDC会议首次在华举办

行业聚焦点中国仪表网2009年12月28日 11:29人气:4678

    12月16日至18日,由美国著名电子电气工程师协会(IEEE)控制系统学会主办的第48届IEEE决策与控制会议(Conference on Decision and Control,简称IEEE-CDC),和中国自动化学会控制理论专业委员会主办的第28届中国控制会议(CCC),两会合一(称为IEEE CDC-CCC’09)在上海国际会议中心成功召开。中科院数学与系统科学研究院多名学者参加了会议的领导和组织工作,会议当地组织工作由上海交通大学承担。

    IEEE-CDC是国际控制领域两个规模和影响最大的系列学术会议之一,每年举行一次,但每四年才在美国之外的国家召开一次,这是中国第一次举办。CCC是国内控制领域的顶级学术会议,每年举办一次,主办单位挂靠在中科院数学院系统科学所。随着中国改革开放和我国科学技术的发展,控制界海内外许多华人早在2003年就酝酿争取IEEE-CDC在中国举办。2005年IEEE控制系统学会正式批准2009年的CDC会议在中国召开,并决定由数学院郭雷院士和美国波士顿大学的J. Baillieul教授共同担任大会总主席,由程代展研究员和美国F. Jabbari教授担任大会程序委员会共同主席。2007年中国自动化学会控制理论专业委员会与IEEE控制系统学会签署协议决定IEEE-CDC与CCC于2009年联合举办。本次会议得到了国家自然科学基金委员会、中国自动化学会控制理论专业委员会、中科院数学与系统科学研究院、上海交通大学和国内外多家公司等的多方资助。

    在这次会议上,来自加拿大McGill大学的P.E. Caines教授(加拿大皇家科学院院士)获得2009年IEEE Bode演说奖(Bode Lecture)并作了大会报告。这次会议还安排了另外7个大会邀请报告,其中,来自Harvard大学的R. Brockett教授(美国工程院院士)、Illinois大学的P. R. Kumar教授(美国工程院院士)、Washington大学的T.J. Tarn教授(IEEE Fellow)等三位著名科学家作了大会报告(Plenary Lecture);而瑞典的A. Lindquist教授(瑞典皇家工程科学院院士)、香港中文大学的W. S. Wong教授(IEEE Fellow)、美国宾夕法尼亚大学的A. Jadbabaie教授和中科院数学与系统科学研究院的姚鹏飞研究员等四位科学家作了半大会报告( Semi-Plenary Lecture)。会议还安排了144场(Session)的口头报告和42场(Session)张贴报告。大多数会场均座无虚席,甚至爆满。会议期间IEEE控制系统学会还隆重颁发了IEEE系统控制奖(Control Systems Award)等国际控制界大奖,为控制系统领域新当选的IEEE Fellow颁发了证书等。此外,美国加州理工学院的Y. Or等人的论文获中国自动化学会控制理论专业委员会颁发的关肇直奖。

    本次大会是历届参会人数最多、规模最大、组织很成功的一次盛会,创造了多项纪录,得到广泛好评。这次会议的正式注册代表超过1600名,来自近百个国家和地区的2000多名代表参加了会议的有关活动。会议为控制系统领域的学者和工程技术人员提供了一个及时交流最新学术成果的国际舞台,使得世界各地的学者更好了解中国,了解我国控制界在学术上取得的最新进展,特别是使得更多中国人有机会参加这一控制领域国际顶级学术盛会。
(本文来源:中科院数学与系统科学研究院转载请注明出处
仪表网官方微信
@仪表网
已推荐
0

全年征稿 / 资讯合作

联系邮箱:ybzhan@QQ.com
  • 凡本网注明"来源:中国仪表网"的所有作品,版权均属于中国仪表网,转载请必须注明中国仪表网,http://www.ybzhan.cn/。违反者本网将追究相关法律责任。
  • 本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
  • 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
成丰仪表——中国第三代流量计领军品牌


返回首页