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2010安捷伦测试测量大会在深圳举行

行业聚焦点中国仪表网2010年09月16日 10:06人气:4596

  2010 安捷伦测试测量大会以“推动无线和数字领域的协作与创新”为主题8月份在深圳举行。

  本次会议从“泛在网络(ubiquitous networking)”的全面测试方案,到 3G-4G 的无线测试大全;从高速数字技术的深入解析,到复杂电路的自动化设计程序;从航空航天的尖端测试设备,到国防科技的集中专题探讨;从 DANL 可逼近到-172dBm 理论极限值的高端频谱分析仪,到基于 PNA-X 的非线性网络测试划时代的创新产品;从复杂电磁环境下的信号监测,到高速数字总线的测试方案…… 这是一次遨游科技迷宫一样的高集成度科技与测试专业课题年度研讨大会。 本次会议深圳站有如下亮点:

 安捷伦电子测试测量技术综述及最新测试技术动态

  电子技术进步带来新的发展空间,同时也给研发测试部门带来挑战。测试仪表是先进技术开发的重要技术资源,新的测试技术和测试仪表的推出不仅能提高参数测试的速度和精度,更重要的是现在新的仪表能为产品开发提供新的技术途径。 安捷伦新推出的很多仪表正在改变很多传统仪表的功能定义和应用方法。

 数字测量的划时代突破 - 基于磷化铟 InP 技术的下一代示波器 DSA- X 90000 系列新产品

  安捷伦基于磷化铟 InP 技术的下一代示波器 DSA- X 90000 系列新产品介绍从事高能物理、新兴有线通信标准和高速串行数据链路(例如 USB、SAS、PCI Express®)相关工作的工程师经常需要使用示波器捕获快速的或偶发单次事件,进行关键的测试与测量(例如抖动测试测量),从而同时必须确保产品符合行业互通操作性标准。由于数据传输速率越来越高,因此工程师需要可执行更高带宽测量的工具、对于示波器带宽的要求越来越高。安捷伦科技公司于 2010 年 4 月 27 日宣布推出 Infiniium DSA-X 90000 系列示波器产品,该系列示波器具有业界领先的 32 GHz 实时带宽,同时具有业界最低的本底噪声和本底抖动测量本底,能够确保卓越的测量精度。

 射频与微波测试的巨大变革 - 全新 X-Series信号分析与产生平台

  信号分析仪(频谱仪)与信号发生器是研发和生产工程师最常用的仪表工具之一。安捷伦秉承MXA、EXA 信号分析仪的快速、可靠、灵活优势,于 2009 年 10 月份同时又推出了两款最新信号分析仪:业界最宽分析带宽和最低底噪的N9030A PXA,以及最经济最实用的N9000A CXA,分别针对高端用户和经济型用户。另外,安捷伦 MXG N5182A,ESG E4438C 和 E8267D 等高性能的信号发生器也将会帮助您在生产与研发过程中,节约成本,加快进度并逐步缩小与对手的差距。所有安捷伦 X 系列平台产品都具有丰富的应用测试功能、信号分析功能和灵活的输入输出接口,如相位噪声测量、噪声系数测量、EMC 检测、无线通信矢量信号分析等。

 让现场测试简单起来 – 全新 7GHz 手持频谱仪

  为了满足各种工程现场和便携测试的需要,安捷伦提供了一系列高性价比的手持式仪表,从手持式电缆天线测试仪、手持式频谱分析仪到手持式矢量网络分析仪,安捷伦为您的测试提供更多更灵活的选择。如今安捷伦手持频谱仪家族又添新成员!全新 7GHz 手持频谱仪 N9342C 带来的不仅仅是频率上的扩展,更提供了数项测试新功能,包括内置 GPS 接收机和业界唯一的测试管理器 Task Planner。

后 3G 时代的技术革命与测量面临的挑战

  作为 4G 标准的有力争夺者, WiMAX 在过去几年中得到了高速发展。 WiMAX 在满足无线宽带业务日益增长方面以及成本效益方面,被业界认为是一种远优于 3G 的技术。然而,LTE技术的出现与发展,也受到了运营商的欢迎,在LTE市场,尽管LTE在技术与市场发展方面晚于WiMAX,但是 LTE 近年两年的发展已呈现赶超WiMAX 之势。事实上,WiMAX 与 LTE 同时存在于市场,可以通过互相配合与协同工作,为运营商网络建设与业务发展提供最有利的技术组合,以满足运营商对特定业务与消费者高带宽应用需求。本次会议介绍 了WiMAX 和 LTE 的技术特点已经测试中面临的挑战。

个人移动终端的飞速变革和测试面临的挑战

  无线通信技术日新月异,芯片厂商和手机设计厂商在他们的产品中逐渐集成CDMA2000/1xEV-DO、EDGE、W-CDMA/HSPA 、TD-SCDMA、CMMB 等技术。这些技术非常复杂,并且为终端用户提供的服务更加灵活多样,因此就要求手机设计公司在将产品交付生产之前,对产品的应用性能进行完备的测试。安捷伦以8960/E5515C无线通信综合测试仪为主体,以及相关测试应用软件(Test Application),给客户提供了基站仿真能力和可靠、准确、稳定和快速的手机发射机,接收机的校准和测试能力。在终测方面,根据测试标准提供了丰富的测试项目,因而被广泛用于手机研发、手机主板生产、手机天线研发及 GPS、CMMB 无线模块等研发生产领域,本此会议上针对这些测试一一做出了解答。 

安捷伦 LTE吞吐量测试的集成方案

  LTE技术的出现,无论对于系统厂商还是测试厂商,都带来了前所未有机遇与挑战。与以往2G/3G时代不同,LTE标准化组织对于接收机的测试也提出了新的要求。会议上以安捷伦业界领先的信号发生器 MXG 和信号分析仪 MXA 为基础,结合 SystemVue 2010 中 LTE library 库,阐述在 LTE的 eNB接收机吞吐量测试中所面临的各种挑战,以及安捷伦公司为应对挑战而研制的全新的独特的软硬件结合的解决方案。

 WiFi 技术发展与 802.11n 的设计与验证

  无论是最新的 B3G 还是WLAN 标准,为了提高传输数据的吞吐量和传输可靠习惯,各种先进的技术都采用了 MIMO OFDM 的通信技术,甚至引入了 8 阶的 MIMO(即 8 个发射机和 8 个接收机)以及先进的发射波束成型(beamforming)技术。本次会议上介绍了 802.11n 和 802.11ac WLAN 的测试标准和指标需求,以及动态频率选择(DFS)预认证测试。

安捷伦新一代微波射频电路测试解决方案

  无论是无线通信技术,还是国防军工领域,其最新发展对射频微波元器件提出了越来越高的要求,微波电路在朝着小型化、大功率、集成化、批量化、低成本等方向发展,从而要求有与之相适应的、高可靠性、高可信度的测试手段。一直作为业界标杆的 PNA-X微波网络测试平台又进一步将测试能力扩展到 43.5GHz和 50GHz。业界最高性能的 PXA信号源分析仪以及输出功率高达1 瓦的大功率微波信号源在内的多种元器件测试方案更将使您的研发和生产工作如虎添翼、效率倍增。与此同时,越来越多的研发测试工程师希望用一台更为通用的仪表来解决其日常工作中的器件的测试问题——不仅要测试射频器件的 S 参数,还要测试低频、非 50 欧姆器件的频率响应特性。这种范围更广的测试在今天的高速数字电路、汽车电子、无线通讯等领域中越来越常见。

  安捷伦科技最新的 E5061B 的测试频率从 5 Hz 开始,一直到 3 GHz,体积更是只有 E5071C 的一半,除了进行传统的射频 S 参数之外,还能对众多的低频器件的参数进行测试,是研发工程师在日常工作中首选的多功能低频、射频测试仪表。

网络仪助您决胜功放测试与非线性 X参数测试

  安捷伦科技全面的网络测试仪器已逐渐成为业界翘楚,从器件测试生产到研发,从 S参数到非线性器件设计,再到 X 参数器件模型和非线性矢量网络测量,安捷伦网络仪表可以以前所未有的测量速度和精确性对有源器件的特性予以充分的表征,大大加快有源器件的设计流程。PNA-X NVNA 可以完成非线性元件的特性描述,提取非线性 X 参数,显示非线性脉冲包络域,创建用户定义的参数显示方式,例如动态 I/V 曲线,提取完整的输入和输出波形数据,以建立用户定义的模型,并使用前面板图形用户界面(GUI)和远程编程接口,快速、简单地进行设置和测量。 X 参数与 ADS 设计和仿真工具相结合,可以将设计迭代最小化、加快仿真速度,并可确定性地为有源器件的非线性行为特性建模。安捷伦的 X 参数是基于对被测件进行测量的行为模型,相对于传统器件物理模型的数据参数表,它更可以完整表征器件的工作特性,并同时更好地保护器件的知识产权。
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