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科学家突破了X射线显微成像的纳米瓶颈

展会前线中国仪表网2006年11月21日 10:53人气:659

 美国Argonne国家实验室的科学家和Xradia合作,创造了新的X射线显微成像方法,这种方法可以观测分子水平的结构,测量小于一纳米的长度。
通过将X射线反射和高分辨率X射线显微成像法相结合,科学家能研究纳米级别结构之间的相互作用,纳米级别物质常表现出不同的性质。更好的理解纳米结构的相互作用可以帮助我们治疗疾病,保护环境,使我们生活更加安全。

以上新技术能帮助我们更多了解表面分界反应,例如吸收,腐蚀,催化反应等。特别的,这一方法能扩展X射线的能力,可以实时的直接的观测小于纳米尺度的表面性质。并且它是非侵入性的,可望用于地形学的扫描成像,而不用探针尖端非常靠近表面。

Argonne实验室和Xradia的科学家们组成了一个专门研究X射线光学和X射线显微成像系统的小组,他们利用相衬原理实现了小于纳米尺度的成像。这一突破借鉴了之前用于电子显微镜的技术,能直接观察固体表面的各种变化。

Argonne实验室的物理学家Paul Fenter表示:“能够看到一个纳米级别的结构对于X射线显微技术是一个重要的基准。理解界面反应对于科学技术的诸多方面都是有着重要意义的,从金属的腐蚀到环境污染。”而Xradia的Steve Wang补充道:“这一技术使我们可以直接看到这些过程,为我们提供从根本上了解它们的机会。”小组还会继续他们的研究工作。

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