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TD-LTE测试技术研讨会12月17日召开

行业聚焦点中国仪表网2010年12月17日 10:59人气:4309

  TD-LTE测试技术研讨会将于12月17日在北京国家会议中心召开,研讨会由工业和信息化部电信研究院、TD技术论坛主办。
  
  本次会议将就TD-LTE测试技术和测试仪表进行深入的技术研讨,通过研讨明确下一步TD-LTE测试技术和测试仪表研究开发和产业化工作的目标、方向和重点工作,加速推进TD-LTE产业全面有序发展。
  
  会议背景:
  
  在工业和信息化部领导下,2009年7月,工业和信息化部TD-LTE工作组启动和实施TD-LTE技术试验。通过建立公共研发和试验验证环境,组织和带动国内外运营企业和设备企业共同参与TD-LTE研究开发和试验验证工作,制定统一的研发路标和技术规范,加快推进研发,强化产业链薄弱环节,力争将TD-LTE打造成具有国际竞争力新一代宽带无线移动通信产业。
  
  TD-LTE测试仪表是产业链中重要的一环,对整个TD-LTE系统、终端的研发与产业化起到重要的支撑作用,对未来网络建设和网优网规也非常重要。本次会议将就TD-LTE测试技术和测试仪表进行深入的技术研讨,通过研讨明确下一步TD-LTE测试技术和测试仪表研究开发和产业化工作的目标、方向和重点工作,加速推进TD-LTE产业全面有序发展。
  
  会议组织
  
  主办单位:工业和信息化部电信研究院TD技术论坛
  
  时间地点:2010年12月17日,国家会议中心310会议室
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