我国引进的台NanoSIMS50L型纳米离子探针验收会于2011年3月14日在中国科学院地质于地球物理研究所召开。副所长吴福元研究员为组长的专家组认真听取了法国CAMECA公司纳米离子探针设计师、FrançoisHillion博士所作的验收报告。专家组对仪器的验收指标有关问题进行了提问，一致认为该仪器的技术参数不仅全部达到合同要求，大部分还优于合同要求的验收指标。
（报告会现场）
纳米离子探针具有极高的空间分辨率（Cs 源束斑小于50nm，O-源束斑小于200nm），与我所已有的CAMECAims1280高精度离子探针互补，构成上非常先进的的离子探针分析平台。新引进的NanoSIMS50L型纳米离子探针配置了7个信号检测器（每个配置法拉第杯和电子倍增器），可以同时测量7个同位素（或元素），分析精度好于千分之一。该仪器可以分析除稀有气体以外，元素周期表中从H至U的全部同位素（元素），并能获取同位素分布的高分辨图像。纳米离子探针的引进，为我国比较行星学、地球科学、材料科学、以及生命科学等领域提供了新的大型实验分析平台。
（纳米离子探针）
