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我国引进首台纳米离子探针仪器通过验收

行业聚焦点中国仪表网2011年05月11日 13:51人气:4595

  我国引进的第一台NanoSIMS50L型纳米离子探针验收会于2011年3月14日在中国科学院地质于地球物理研究所召开。副所长吴福元研究员为组长的专家组认真听取了法国CAMECA公司纳米离子探针设计师、FrançoisHillion博士所作的验收报告。专家组对仪器的验收指标有关问题进行了提问,一致认为该仪器的技术参数不仅全部达到合同要求,大部分还优于合同要求的验收指标。

(报告会现场)
  
  纳米离子探针具有极高的空间分辨率(Cs 源束斑小于50nm,O-源束斑小于200nm),与我所已有的CAMECAims1280高精度离子探针互补,构成国际上非常先进的的离子探针分析平台。新引进的NanoSIMS50L型纳米离子探针配置了7个信号检测器(每个配置法拉第杯和电子倍增器),可以同时测量7个同位素(或元素),分析精度好于千分之一。该仪器可以分析除稀有气体以外,元素周期表中从H至U的全部同位素(元素),并能获取同位素分布的高分辨图像。纳米离子探针的引进,为我国比较行星学、地球科学、材料科学、以及生命科学等领域提供了新的大型实验分析平台。

(纳米离子探针)
(本文来源:中国科学院地质与地理物理研究所转载请注明出处
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