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中国计量院喜获2011年度CAIA奖

行业聚焦点中国仪表网2011年10月26日 11:38人气:3419

  日前,2011年度中国分析测试协会科学技术奖(CAIA奖)揭晓,中国计量科学研究院5项科技成果榜上有名,其中包括一等奖1项,二等奖1项,三等奖3项。
  
  在获奖的5项成果中,“分析测试用农残级有机溶剂纯化制备与检测核心关键技术研究”荣获一等奖;“与国际等效的Si上SiO2超薄层厚度精确测量XPS方法”荣获二等奖;“19类38种食品二氧化碳计量标准物质及检测技术的研究”,“蓖麻毒蛋白和茶碱的高灵敏检测技术及准确定量方法研究”,“人血清中肌酐高准确度测量方法、标准物质研究及国际关键比对”3项成果荣获三等奖。
  
  其中,获得一等奖的“分析测试用农残级有机溶剂纯化制备与检测核心关键技术研究”是中国计量院承担的国家科技部重大科技支撑计划项目研究成果。该项目组攻克了14项科研用高纯有机溶剂制备与检测的共性关键技术,自主研发了甲醇、乙腈、正己烷、丙酮、乙酸乙酯、乙醇等色谱级、农残级与光谱级高纯有机溶剂并大部分实现产业化。与国际同类产品相比,这些具有自主知识产权的技术和试剂产品,技术指标相当,但生产成本和价格明显降低,打破了我国高纯有机试剂长期依赖进口的局面,降低了对国外的技术依存,将在我国食品安全、环境保护、生命科学、生物安全等众多领域发挥基础支撑作用。
  
  荣获二等奖的“与国际等效的Si上SiO2超薄层厚度精确测量XPS方法”课题建立了一种能高准确度测量硅(Si)上二氧化硅(SiO2)超薄层厚度的XPS分析方法,通过参加国际关键比对并使等效度、方法的有效性得到了很好确认,进而成功申报国际校准与测量能力、实现了我国相应国家测量标准校准与测量能力的国际互认。该成果能够较好满足硅基器件、集成电路的制造对于二氧化硅栅氧化层厚度测量的迫切产业需求,具有良好的经济效益。
  
  “中国分析测试协会科学技术奖”是分析测试领域唯一的经国家科技部批准,由国家科学技术奖励办公室正式登记的社会力量设奖。自1993年开始至今,该奖项已累计评选了19次,共有538项分析测试新技术新方法等成果获得奖励。
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