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泛华测控成功参加2009全球图形化系统设计盛会

展会前线中国仪表网2009年11月12日 10:08人气:464

2009年度 “NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站于10月28日在上海国际会议中心圆满落幕。会议围绕“超越&S226;无限”的主题,通过五大专题、二十余场技术讲座,六大互动展示区、近六十个应用演绎和新品展示等,全方位为客户展现各领域的创新理念与技术,并且借助这一平台,全国工程师汇聚一堂,畅论发展,展望趋势!

作为一个连续十一年在中国地区举办的行业技术盛会,NIDays已经在业界具有权威的知名度和认可度。而作为NI一直以来的合作伙伴,泛华测控再一次应邀出席本次盛会。会议上,泛华结合自身在测试测量十几年的经验和总结以及在传感器、汽车电子产品 、电器设备等领域的众多实际应用案例,与客户分享了《构建自动生产线测试系统技术分享及案例研究》;并且展示了泛华多年来自主研制的汽车传感器测试系统、旋转机械信号处理平台以及专用振动分析仪等系统。

一直以来,泛华都以“为客户提供量身定制的测试系统”为目标,秉承对测试系统精确性、可靠性、适用性、灵活性及扩展性的不断追求,形成了以模块化、系统化、专利化的开发思路,在最大程度上满足各行业用户的测试需求。目前,泛华测控设计并开发的测试产品及系统已广泛应用于汽车电子、航空航天、工业电气化、消费类电子等多种行业。
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