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第74届中国电子展暨第十三届国际电子测试与测量专业研讨会

会议报道中国仪表网2009年11月24日 10:18人气:336

      年11月11日,伴随着“第74届中国电子展”的隆重开幕,“第十三届国际电子测试与测量专业研讨会暨2009集成电路测试技术峰会”也拉开了帷幕。


 
     此次峰会是由中国电子学会和中国电子器材总公司主办,爱德万(苏州)有限公司协办,中国电子学会电测分会、北京自动测试技术研究所和中电会展与信息传播有限公司共同承办的。会议由中国电子学会电测分会秘书长崔建平主持,

    会议首先向参会代表介绍了特邀的各位嘉宾,他们是上海集成电路设计孵化基地的总经理赵华鑫、包智杰等,随后北京自动测试技术研究所的副所长于韶光、上海市集成电路行业协会秘书长蒋守雷、爱德万(苏州)有限公司的总经理徐勇分别致辞,他们热情洋溢的讲话博得了代表们的热烈掌声。正如蒋秘书长所言,中国目前的“芯”还不是自己的,中国电子产业的发展最重要的一部份就是集成电路的发展”,而徐勇总经理则坦言,虽然爱德万是外资公司,但我却是真正的中国心,我们愿意为中国的集成电路行业的发展贡献应有的力量。

    整个峰会分上、下午两个专场,上午主要由国内大规模集成电路测试的权威机构-北京测试技术研究所的冯建科总工、姜岩峰博士和复旦大学集成电路测试技术中心的肖鹏程主任就“混合信号集成电路测试方法新进展”“新一代数模混合信号测试技术及系统”“Gb/s超高速集成电路测试技术”和与会代表进行探讨;下午则由爱德万(苏州)有限公司就“先进的RFIC测试方案”“高精度ADC测试”“高速DAC的测试”“SIP测试”“DDR3测试方法”等高端热点技术和与会代表交流。台上台下问答不断,会议现场互动气氛异常热烈。

     一天高端前沿的演讲内容吸引了150多位专业听众,他们既有来自上海华虹NEC、上海先进半导体、上海飞乐、中茂电子、飞思卡尔半导体、松下半导体、灿芯半导体等知名企业的工程师,也有来自上海交大、复旦大学、同济大学、南京理工大、华东理工大学、 华东师范大学、合肥工业大学、无锡商职院等高校和职校的专家教授和学生,更有来自中航无线电电子研究所、中国北车研究所、615所等研究院所的高工和主管。

    会议最后的幸运抽奖将峰会现场推向高潮,最终的手机幸运大奖,花落一名忠实的听众代表-615所的工程师。一天的会议结束了,大家期待着明年的再次相逢!

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