东方测控

行业企业市场标准科技新品会议展会政策原创

光电研究院科研人员参加第27届国际电磁研究进展研讨会

会议报道中国仪表网2010年04月02日 10:43人气:315

    3月22日日至25日,国际电磁研究进展大会(PIERS2010Xi'an)在西安成功举行,大会由麻省理工学院电磁科学院主办、西北工业大学承办,吸引了来自近50个国家的600多位专家和学者,在电磁理论、光电子学、红外、微波、天线等诸多领域进行了交流和讨论。

     电磁科学领域是一个内涵很广且发展非常迅速的领域,对航空、航天、图像分析、信息获取、通信等行业起着重要的支撑作用,本次大会的数十场专题报告从各个侧面反映了电磁科学的国内外最新研究成果。

     中科院光电研究院对地观测技术应用研究部的相关科研人员参加了本次大会,听取了遥感相关分会场的学术报告,并在会上做了口头报告和相关交流。参会的文章题为A comparison of LSD method and SSDC method for estimating SNRs of imaging spectrometer data,反映了高光谱图像信噪比评估方法评价方面的研究成果。图像信噪比是体现传感器在轨成像质量的一项重要指标参量,也是对地观测技术应用研究部新型遥感器机理与应用研究方向中的一个重要研究内容。

     通过参加此次会议,一方面展示了光电院的研究成果,另一方面通过交流和学习拓宽了思路,将进一步促进科研工作的开展。


(本文来源:光电研究院转载请注明出处
仪表网官方微信
@仪表网
已推荐
0

全年征稿 / 资讯合作

联系邮箱:ybzhan@QQ.com
  • 凡本网注明"来源:中国仪表网"的所有作品,版权均属于中国仪表网,转载请必须注明中国仪表网,http://www.ybzhan.cn/。违反者本网将追究相关法律责任。
  • 本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
  • 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
成丰仪表——中国第三代流量计领军品牌


返回首页