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泛华测控成功举办2010汽车电子测试技术研讨会

会议报道中国仪表网2010年07月14日 10:16人气:297

   7月8日,由北京中科泛华测控技术有限公司 (简称:泛华测控)主办的2010汽车电子测试技术研讨会上海站圆满落幕。此次研讨会共分四站,分别于武汉(6月10日)、重庆(6月24日)、上海(7月8日)、长春(7月15日)四地举办。

  从行业分布来看,此次研讨会有涉及电子、仪器仪表、汽车整车制造和零配件生产制造商等多行业的企业参与。其中东风-本田、法国D2t、固特菲斯电子、华中科技大学、神龙汽车有限公司、武汉大学等业内知名企业及相关院校都参加了此次活动。

  此次研讨会旨在通过使用有效的测试测量产品使汽车电子产品品质得到有效保障,从而使汽车更加智能化、舒适化,人性化。研讨会以“聚焦测试、保证品质”为主题,汽车电子测试技术的体验创新、生产线测试的新方法、整车制动领域的性能测试与分析、专业ECU标定策略四大亮点内容为与会者带来了精彩的演讲。会上,泛华测控工程师还为参与者演示了泛华近年来在汽车电子测试领域得到成功应用的通用传感器测试系统、仪表盘检测系统、CALAB、ECU等DEMO。

  此次会议将经验分享、案例分析及现场演示等多种形式充分结合。同时,泛华测控工程师还与到场的各行业人员进行了互动交流,帮助工程师们解决其实际工作中的难题,使得与会者更熟悉泛华测控的技术和产品,受到了与会者的一致好评。

  从2008年开始,“泛华测控”每年在全国各城市巡回举办汽车电子测试技术研讨会,旨在能为汽车电子测试领域的工程师们提供更好的沟通平台,此次是第三届,规模和场次也较以往有较大的提升。近期作为此次“泛华测控”2010汽车电子测试技术研讨会的最后一站,长春站也即将于7月15日正式启动。
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