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中广测举办光谱技术交流会

行业上下游中国仪表网2012年06月06日 15:37人气:7585

  2012年6月2日,广州测试分析中心联合举办广州光谱技术交流会,参加交流会的有来自企业、科研单位、高校等单位的代表共计160余人。
  
  本次交流会围绕光谱技术的最新进展、行业应用两个主题,特邀行业专家、资深用户、厂商代表作了精彩报告。我中心陈江韩主任在会上致辞,并结合自身的科研工作对光谱技术的发展做了精辟的阐述。陈建平、陈云两位工程师分别作“ICP-MS在食品分析中的应用”和“原子光谱样品前处理”为主题的技术报告。陈建平工程师、郭鹏然博士结合自身工作实际,详细解答了与会者的提问。会后,与会者还参观了我中心实验室。
  
  本次交流会报告内容精彩,既有理论又结合工作经验,受到与会者的广泛欢迎,为行业内的技术工作者提供了一个沟通交流的平台。
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