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沃特世发布最新SYNAPT G2-Si质谱仪

新品抢鲜中国仪表网2013年06月18日 08:33人气:21015

  沃特世公司(NYSE:WAT)今天于美国质谱年会(ASMS)上发布了最新Waters®SYNAPT®G2-Si质谱系统。公司还发布了基于UNIFI®软件平台的CCS软件,用于分子在气相条件下碰撞横截面积相关研究,同时还推出了用于组学研究的TransOmics2.0版信息学软件,该软件配合新的SYNAPTG2-Si质谱,在小分子领域的不同应用以及生命科学研究的“组学”领域具有独特的优势。
  
  SYNAPTG2-Si质谱仪为靶向的和非靶向的LC/MS/MS分析流程带来了第三个维度的分辨率和分离能力,能够为研究人员提供更多的数据信息,以帮助了解更深层次的分子生物学和疾病机理,并帮助开发下一代疾病治疗方法和药物;也可以为食品及环境样品中污染物的筛查提供新的思路。SYNAPTG2-Si整合了能力非凡的行波(T-Wave)离子淌度分离技术、数据采集以及信息学技术,且可用于最严格的气相碰撞横截面积(CCS)测量,因此,此系统提供的信息量和数据可信度远远超越了传统的质谱技术和色谱技术。
  
  SYNAPTG2-Si质谱仪是第一款同时将气相碰撞横截面积(CCS)、保留时间和荷质比(m/z)三个参数作为分子的定性参数用于筛查研究,为基于数据库的筛查研究提供了又一个稳定、可靠的定性参数。
  
  “测量分子的CCS(气相碰撞横截面积)将改变我们对已知化合物的筛查策略,这是由于CCS值不受样品基质和色谱方法影响,因此能够获得可信度更高的筛查结果。”比利时国家健康科学研究所的SeverineGoscinny博士说,“SYNAPTG2-Si系统是沃特世公司持续不断地创新质谱技术,并同众多科学家开展深度合作的最佳见证。”
  
  碰撞横截面积CCS是分子的一个重要特性,它同分子的化学结构以及分子在气相条件下的三维构象直接相关。恰如分子的分子量特征信息,CCS是又一个正交的分子特征信息(通过使用高效T-wave离子淌度技术得以实现),为科学家分析表征复杂混合物样品提供更全面的分子特征信息,以及更可靠的分子鉴定结果。
  
  将CCS(气相碰撞横截面积)分离能力与HighDefinition Data-Directed-Analysis(高清数据引导分析,简称HD-DDA)操作模式和高清MRM多反应监测定量(HD-MRM)操作模式有机结合用于靶向的或非靶向的分析研究,为极具挑战的定性和定量应用带来了显著的优势:
  
  将质量飞行器(Tof)的循环时间和有效灵敏度最大化,MS/MS模式进行靶向的研究和定量,性能提高10倍。
  
  LC/MS/MS效率大大提高,大肠杆菌E.coli样品中的蛋白鉴定数目提高40%,从HeLa细胞样品中鉴定到的蛋白质超过2000个。
  
  借助高分辨率和准确质量的MS/MS数据,为靶向的定量分析提供超高灵敏度。
  
  分析非常复杂的样品时,能够将目标化合物与样品中的基质干扰实现物理分离,也可以根据目标化合物碰撞横截面积特征信息获得目标分子瞬时形态的相关信息,具有更好的选择性。
  
  更快的2500Hz的新型固体激光器和最新的软件提高了空间分辨率(最低至15µm),与MALDI成像和T-wave离子淌度技术有效结合,能够获得更清晰的质谱数据,同时成像分析的通量更高。
  
  事实证明:基于T-Wave离子淌度技术的质谱技术将帮助研究实验室获得更好的科研成就,今年2月份的InternationalJournalofIonMobilitySpectrometry杂志发表了两期T-Wave离子淌度技术专刊,其中包含了13篇全球顶级的科学家撰写的科研论文。
  
  作为SYNAPT质谱家族的最新成员,SYNAPTG2-Si系统可分离单个异构体,同分异构体和同位素化合物,帮助识别生物修饰位点,研究生理条件下分子的高级结构,对复杂混合物进行全面表征,并在筛查实验中将假阳性率和假阴性率降至最低水平。
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