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国内首款X射线小角散射测试仪研制成功

行业聚焦点中国仪表网2013年08月22日 11:37人气:14558

  导读:日前国内首款X射线小角散射测试仪研制成功。该测试仪可以进行1—300nm的数量级范围内的纳米颗粒粒度分布测试,测试精度接近或超过进口设备,价格比同类进口仪器降低了2/5左右。
  
  由秦皇岛太极环纳米制品公司出资,钢铁研究总院粉末冶金研究室高级工程师郑毅,经过两年的潜心研制与改进,国内首款X射线小角散射测试仪日前研制成功。该测试仪依据国家和国际标准技术规范,可以进行1—300nm的数量级范围内的纳米颗粒粒度分布测试,主要应用于金属、陶瓷、涂料等工业领域。其测试精度接近或超过进口设备,价格比同类进口仪器降低了2/5左右。
  
  目前,可用于测量纳米颗粒粒度分布的测试仪器还包括电镜、BET比表面仪与纳米粒度仪。X射线小角散射方法有明显的技术优势,与电镜相比,X射线小角散射法制样简单,样品测量种类多样,数据的统计代表性优良。据介绍,BET比表面测试的方法无法给出纳米粒度分布的测试结果,激光法测试的纳米粒度仪器需要对样品进行很好的分散,否则测量结果为颗粒团聚体的粒度分布,而X射线小角散射仪测定结果为一次颗粒的粒度分布,即使纳米颗粒不能很好的分散,测试结果受颗粒团聚效应的影响也不大。
(本文来源:科技日报转载请注明出处
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