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惠瑞捷上市面向小批量生产测试的存储器测试仪

话题调查中国仪表网2007年08月20日 08:34人气:769

美国惠瑞捷(Verigy)上市了面向小批量生产测试的存储器LSI测试仪“VerigyV5000ep”(英文发布资料)。该测试仪将用于对一定数量的样品芯片进行特征描述及品质保证等。

  该公司曾推出过多款存储器测试仪。其中包括:在量产测试中,用于晶圆测试的“V5400”和用于封装测试的“V5500”,以及用于研发的“V5000e”(安捷伦时代为V5000)。此次,在V5000e中主要追加了两项功能,弥补了推出V5400及V5500时量产规模的不足。

  此次追加的功能,一是便于分配及共享测试资源的“ProgrammableInterfaceMatrix(以下称Matrix)”,二是将V5000e与探针和分选器(Handler)连接的接口箱。Matrix是大约2年前与V5500配套开发的,于07年2月开始与V5000e配套使用。惠瑞捷(当时是安捷伦)在发布配备Matrix的V5500时表示,该产品非常适用于内置NAND型闪存、NOR型闪存以及SRAM等的多芯片封装(MCP)。

  此次通过新配备接口箱,提高了面向小批量量产测试的易用性。“以前有些客户就自备了将探针和分选器与V5000e连接的连接线。而使用这个接口箱,就可以省去这些麻烦。还易于确保精度”(日本法人惠瑞捷)。该公司表示,使用R&D用测试仪测试1000个样品需要1周时间,而使用V5000ep只需7个小时。
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